標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GA/T 1171-2014
中文名稱:	芯片相似性比對(duì)檢方方法
英文名稱:	Examination methods for similarity comparison of integrated circuit chips
中標(biāo)分類:	L56    半導(dǎo)體集成電路
行業(yè)分類:	GA    公共安全行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	31.200 31.200    集成電路、微電子學(xué) 31.200
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國(guó)公安部
發(fā)布日期:	2014-07-09
實(shí)施日期:	2014-7-9
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	valid
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	7000 字
翻譯價(jià)格(元):	420.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了集成電路芯片相似性比對(duì)檢驗(yàn)方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于集成電路芯片相似性比對(duì),檢驗(yàn)集成電路芯片設(shè)計(jì)的相似性。