標(biāo)準(zhǔn)編號:	GB/T 10589-1989
中文名稱:	低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
英文名稱:	Specification for low temperature test chambers
中標(biāo)分類:	N04    基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
行業(yè)分類:	GB    國家標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國機(jī)械電子工業(yè)部
發(fā)布日期:	1989-03-22
實(shí)施日期:	1990-1-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
被替代日期:	2009-1-1
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	10000 字
翻譯價格(元):	600.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了低溫試驗(yàn)箱的使用條件，技術(shù)要求，試驗(yàn)方法，檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、貯存等要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對電工電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行低溫試驗(yàn)的試驗(yàn)箱。