標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 12085.12-2010
中文名稱(chēng):	光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第12部分：污染
英文名稱(chēng):	Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 12:Contamination
中標(biāo)分類(lèi):	N30    光學(xué)儀器綜合
行業(yè)分類(lèi):	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類(lèi):	37.020 37.020    光學(xué)設(shè)備 37.020
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì) 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布日期:	2011-1-14
實(shí)施日期:	2011-5-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 12085.12-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第12部分：污染
被替代日期:	2023-5-1
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	GB/T 12085.12-1989 GB 12085.12-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 污染
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	12000 字
翻譯價(jià)格(元):	1080.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本部分規(guī)定了污染試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分中所指的“污染”的含義是腐蝕性化學(xué)物質(zhì)1)(以下稱(chēng)試劑)同光學(xué)儀器的接觸。
本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
1) 不包括放射性元素和同位素及危險(xiǎn)性化學(xué)物質(zhì)如2,2-二氧二乙硫醚。
本部分不適用于作為正常的生產(chǎn)控制。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯績(jī)x器,尤其是儀器的表面、涂層或合成材料短時(shí)間內(nèi)暴露在試劑中的抵抗能力。
試驗(yàn)通常只用于在使用期有可能遭受污染的儀器選擇材料或元件時(shí)參考。