標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 12085.5-2010
中文名稱:	光學(xué)和光學(xué)儀器　環(huán)境試驗(yàn)方法　第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗(yàn)
英文名稱:	Optics and optical instruments—Environmental test methods—Part 5:Combined cold low air pressure
中標(biāo)分類:	N30    光學(xué)儀器綜合
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	37.020 37.020    光學(xué)設(shè)備 37.020
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化委員會(huì) 國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局
發(fā)布日期:	2011-1-14
實(shí)施日期:	2011-5-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 12085.23-2022 光學(xué)和光子學(xué) 環(huán)境試驗(yàn)方法 第23部分：低壓與低溫、大氣溫度、高溫或濕熱綜合試驗(yàn)
被替代日期:	2023-5-1
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	GB/T 12085.5-1989 GB 12085.5-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗(yàn)方法 綜合低溫與低氣壓
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	8000 字
翻譯價(jià)格(元):	800.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本部分規(guī)定了低溫和低氣壓綜合試驗(yàn)的試驗(yàn)條件、條件試驗(yàn)、試驗(yàn)程序及環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)記。
本部分適用于在高山地區(qū)或飛機(jī)儀表盤(pán)上或?qū)椛鲜褂玫墓鈱W(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗(yàn)?zāi)康氖茄芯吭嚇拥墓鈱W(xué)、熱學(xué)、化學(xué)和電學(xué)等特性受到低溫與低氣壓影響的變化程度，包括測(cè)定水的冷凝和凍結(jié)對(duì)儀器或零部件的附加影響。