標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 12604.10-2011
中文名稱:	無損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 磁記憶檢測(cè)
英文名稱:	Non-destructive testing - Terminology - Terms used in magnetic memory testing
中標(biāo)分類:	J04    基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	19.100 19.100    無損檢測(cè) 19.100
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:	2011-6-16
實(shí)施日期:	2012-3-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 12604.10-2023 無損檢測(cè) 術(shù)語(yǔ) 第10部分：磁記憶檢測(cè)
被替代日期:	2023-5-23
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	10000 字
翻譯價(jià)格(元):	600.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)界定了金屬磁記憶檢測(cè)的術(shù)語(yǔ)和定義。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于磁記憶檢測(cè)和無損檢測(cè)及其他相關(guān)領(lǐng)域。