標準編號:	GB/T 13221-2004
中文名稱:	納米粉末粒度分布的測定X 射線小角散射法
英文名稱:	Nanometer powder—Determinaiton of particle size distribution—Small angle X-ray
中標分類:	N78    X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
行業分類:	GB    國家標準
ICS分類:	19.120 19.120    粒度分析、篩分 19.120
發布機構:	中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國家標準化管理委員會
發布日期:	2004-09-29
實施日期:	2005-4-1
標準狀態:	valid
替代舊標準:	GB/T 13221-1991 超細粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數:	6,000 字
翻譯價格(元):	460.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規定了利用X射線小角散射效應測定納米粉末粒度分布的方法。本標準適用于測定顆粒尺寸在1 nm～300nm范圍內的粉末的粒度分布，對于無機、有機溶膠及生物大分子粒度的測定，也可參照執行。當粉末的顆粒形狀偏離球形時，本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質的顆粒組成的混合粉末；一般也不適用于有微孔存在的粉末，但當微孔尺寸為納米級而顆粒(或骨架)尺寸在0．5μm以上時，可以用來測定相應的孔徑分布。