標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 14028-1992
中文名稱(chēng):	半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理
英文名稱(chēng):	principles of measuring methods of analogue switches for semiconductor integrated circuits
中標(biāo)分類(lèi):	L55    微電路綜合
行業(yè)分類(lèi):	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類(lèi):	31.200 31.200    集成電路、微電子學(xué) 31.200
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1992-1-2
實(shí)施日期:	1993-8-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 14028-2018 半導(dǎo)體集成電路 模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法
被替代日期:	2018-8-1
作廢日期:	2018-08-01
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	16000 字
翻譯價(jià)格(元):	1520.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了MOS和結(jié)型場(chǎng)效應(yīng)半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)電參數(shù)測(cè)試的基本原理。模擬開(kāi)關(guān)與CMOS電路相同的靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試可參照GB3834《半導(dǎo)體集成電路CMOS電路測(cè)試方法的基本原理》。