標準編號:	GB/T 14184-1993
中文名稱:	變像管和像增強管測試方法
英文名稱:	The methods of measurement for imageconverter tubes and image intensifier tubes
中標分類:	L39    其他電真空器件
行業分類:	GB    國家標準
ICS分類:	31.120 31.120    電子顯示器件 31.120
發布機構:	國家技術監督局
發布日期:	1993-02-20
實施日期:	1993-10-1
標準狀態:	valid
替代舊標準:	作廢
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數:	13000 字
翻譯價格(元):	1960.0
交付時間:	付款后 1 個工作日

Codeofchina.com is in charge of this English translation. In case of any doubt about the English translation, the Chinese original shall be considered authoritative. The methods of measurement for image converter tubes and image intensifier tubes 1 Subject content and applicable scope This standard specifies the test conditions and methods for photoelectric parameters of image converter tubes and image intensifier tubes (hereinafter referred to as electronic tubes). This standard is applicable to the photoelectric parameter test of image converter tube (including X-ray image intensifier tube) and image intensifier tube and its components. 2 Test conditions 2.1 Environmental conditions Unless otherwise specified, the environmental conditions for the test shall meet the normal test atmospheric conditions (temperature of 15–35°C, relative humidity of 45%–75% and air pressure of 86–106 kPa) specified in GB 2421 Basic environmental testing procedures for electric and electronic products—General and guidance. 2.2 Test equipment 2.2.1 Test room Photocathode is sensitive to radiation, so the test room of electronic tube shall be able to shield external radiation. The selection of test room materials (including paint and any opaque plastic or laminated plate) shall also ensure that they are in the invisible light region of the spectrum and do not affect the accuracy of the test. The test shall be provided with devices for shielding magnetic and electric fields. For the test device, the input and output optical axes of the electronic tube shall be positioned. 2.2.2 Filter The performance of the filter shall not affect the test of photoelectric parameters of the electronic tube. a. Neutral filter The spectral transmittance of neutral filters in the specified wavelength range shall be specified in the detailed specification. b. Monochromatic filter The minimum peak transmittance, the bandwidth and peak wavelength at 50% (or 10%) peak transmittance, and the maximum transmittance in the specified band outside the passband of the monochromatic filter shall be specified in the detailed specification. 2.2.3 Diffuser The spectral transmittance and spatial distribution of luminous intensity of diffusers shall be specified in the detailed specification. 2.2.4 Light source Monochromatic light source is preferred. When a monochromatic light source is not required, a tungsten lamp calibrated by a light source (standard A light source) with a color temperature of 2,856 ± 20K shall be used, except that the test method allows a wide range of color temperature. The maximum allowable divergence angle of light beam shall be specified in the detailed specification. 3 Photoelectric parameter test 3.1 Photocathode sensitivity 3.1.1 Definition 3.1.1.1 Luminous sensitivity The quotient of the photocurrent divided by the incident luminous flux. 3.1.1.2 Irradiation sensitivity The quotient of the photocurrent divided by the radiant power. 3.1.2 Test procedure Apply a specified voltage between the cathode of the electronic tube and other connected electrodes, evenly irradiate the specified area of the photocathode with the specified luminous flux or radiant power parallel to the input optical axis, and use the specified filter. Measure the cathode current when there is irradiation and no irradiation. The photocathode sensitivity shall be calculated using Equation (1): (1) where, ?——the luminous flux or radiant power, lm or W; I1——the cathode current when there is irradiation (including leakage current and dark current of photocathode), μA or mA; I2——the cathode current when there is no irradiation (including leakage current and dark current of photocathode), μA or mA; When the sensitivity is calculated, the luminous flux or radiant power is used to obtain the luminous sensitivity (μA/lm) or radiation sensitivity (mA/W) respectively. This test is only applicable to electronic tubes that can be connected to each electrode. Conditions to be specified in the detailed specification: Working conditions of electronic tubes; Irradiated area of the photocathode; Voltage between the photocathode and other electrodes connected together; Luminous flux and (or) radiant power; Characteristics of light source (see 2.2.4); Filter requirements (see 2.2.2). 3.2 Equivalent background illuminance 3.2.1 Definition The incident illuminance when the output luminance is increased to twice the average background luminance generated only by the dark current of the electronic tube. ? 3.2.2 Test procedure Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to requirements specified in the detailed specification, do not apply light to the photocathode, and measure the average luminance of the specified area of the fluorescent screen in the direction of the output optical axis with the specified luminance meter after the specified stabilization time, and record the reading. Use the light parallel to the input optical axis and with the specified illuminance emitted by the specified light source to evenly irradiate the specified area on the photocathode, and record the reading of the luminance meter, then the equivalent background illuminance shall be calculated using Equation (2): (2) where, R1——the reading of the luminance meter when the photocathode is not illuminated; R2——the reading of the luminance meter when the photocathode is illuminated; E——the illuminance of photocathode. Unless otherwise specified in the detailed specification, since the reading R1 or R2 fluctuates, it shall be observed for 30s, and then read R1 and R2. Conditions to be specified in the detailed specification: Working conditions of electronic tubes; Stabilization time (when there is no light); Illuminated area of the photocathode; Illuminance of photocathode; Area of measured luminance of fluorescent screen; Characteristics of luminance meter (dark current, linearity); Characteristics of light source (see 2.2.4) and the maximum divergence angle. ? 3.3 Luminance gain or radiation gain 3.3.1 Definition 3.3.1.1 Luminance gain The quotient obtained by dividing the output average luminance within the specified area of the fluorescent screen by the uniform illuminance of the specified spectral distribution within the specified area on the photocathode. 3.3.1.2 Radiation gain The quotient obtained by dividing the average radiance of the specified spectral distribution within the specified area of the fluorescent screen by the uniform irradiance of the specified spectral distribution within the measured area projected onto the photocathode. 3.3.2 Test procedure Uniformly irradiate the specified area of the photocathode with the specified illuminance or irradiance of the specified light source parallel to the input optical axis. Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to requirements specified in the detailed specification. After the specified stabilization time, measure the luminance or radiance within the specified area of the fluorescent screen with the specified luminance meter or radiometer. The luminance gain or radiation gain shall be calculated using the following equation: (3) where, L——the luminance or radiance, cd/m2 or W/(sr·m2); E——the illuminance or irradiance, lx or W/m2. In calculation, luminance gain is obtained from luminance and illuminance, and radiation gain is obtained from radiance and irradiance. The luminance gain and radiation gain may also be calculated using the following equation: (4) ? Conditions to be specified in the detailed specification: Working conditions of electronic tubes; Characteristics of light source (see 2.2.4) and the maximum divergence angle; Illuminance or irradiance of photocathode; Illuminated area of the photocathode; Corresponding spectral sensitivity and receiving angle of luminance meter or radiometer; Stabilization time; Area of measured luminance or radiance on the fluorescent screen. 3.4 Reverse working voltage 3.4.1 Definition The ability of the electronic tube to withstand reverse power supply voltage. 3.4.2 Test procedure Uniformly illuminate the whole area of photocathode to reach the specified illuminance, which can be zero. Apply the specified reverse voltage to the specified connection end of the electronic tube for the specified time. After the voltage is removed, at the end of the specified recovery time, the test shall be carried out according to the detailed specification. This test is only applicable to electronic tubes with combined power supply. Conditions to be specified in the detailed specification: Illuminance of photocathode; Reverse working voltage; Duration of applying reverse voltage; Recovery time; Test requirements after applying reverse working voltage. ? 3.5 Uniformity of output luminance 3.5.1 Definition The spatial change of the output luminance of the fluorescent screen under the specified incident light, which is generally expressed by the ratio of the maximum and minimum output luminance. 3.5.2 Test procedure Uniformly irradiate the whole area of the photocathode with the specified light source and illuminance parallel to the input optical axis. Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to the detailed specification, and visually detect the obvious non-uniformity of the luminance of the fluorescent screen. Then, use the luminance meter to measure the output luminance change in the specified area on the fluorescent screen, which can be shown in a chart. Conditions to be specified in the detailed specification: Working conditions of electronic tubes; Tested area of the fluorescent screen; Light source characteristics (see 2.2.4); Illuminance of photocathode; Spectral sensitivity and receiving angle of luminance meter. 3.6 Limit working voltage 3.6.1 Definition The ability of the electronic tube to withstand limit working voltage. 3.6.2 Test procedure Irradiate the whole area of the photocathode with the light of the specified illuminance, which can be zero. Apply the working voltage to the electronic tube and adjust it to the specified limit voltage value. Observe the fluorescent screen within the specified time, and bright spot, stripe, flash or defects of other shapes with higher luminance than the average background are not allowed. At the end of the specified observation time, after the limit voltage is removed, the test shall be carried out according to the detailed specification. Conditions to be specified in the detailed specification: Illuminance of photocathode; Working conditions of electronic tubes; Limit working voltage; Duration of observation period; Test requirements after applying limit working voltage. 3.7 Input current 3.7.1 Definition The current flowing through the input circuit when the electronic tube works. 3.7.2 Test procedure Apply voltage to each electrode of the electronic tube according to the detailed specification, and evenly irradiate the whole area of the photocathode with the light of the specified illuminance, which can be zero. Measure the average or peak current flowing through the input end. Conditions to be specified in the detailed specification: Working conditions of electronic tubes; Illuminance of photocathode; Input impedance of power supply (if applicable); Measure the resistance of the circuit (if applicable). 3.8 Modulation transfer function 3.8.1 Definition The relationship between modulation transfer factor and spatial frequency. The modulation transfer factor is the ratio of the modulation depth of the output image to the modulation depth of the input image when a sine wave pattern is transferred at a certain spatial frequency.

1 Subject content and applicable scope 2 Test conditions 3 Photoelectric parameter test

中華人民共和國國家標準 GB/T 14184—93 變像管和像增強管測試方法 The methods of measurement for image- Converter tubes and image intensifier tubes 國家技術監督局1993-02-20批準 1993-10-01實施 1 主題內容與適用范圍 本標準規定了變像管和像增強管(以下簡稱電子管)的光電參數測試條件和測試方法。 本標準適用于變像管(包括X射線像增強管)和像增強管及其組件的光電參數測試。 2 測試條件 2.1 環境條件 除非另有規定，測試的環境條件應符合GB 2421《電工電子產品基本環境試驗規程 總則》規定的正常試驗大氣條件(溫度15～35℃，相對濕度45％～75％和氣壓86～106kPa)。 2.2 測試設備 2.2.1 測試室 光電陰極對輻射靈敏，電子管的測試室應能屏蔽外界輻射。選擇測試室材料(包括油漆和任何不透明塑料或疊層板)時，還應保證在光譜的不可見光區，也不影響測試的準確性。 應具備屏蔽磁場和電場的裝置。 測試裝置應保證電子管的輸入和輸出光軸可以定位。 2.2.2 濾光片 濾光片的性能應不影響電子管光電參數的測試。 a.中性濾光片 中性濾光片在規定波長范圍內的光譜透射比應在詳細規范中規定。 b.單色濾光片 單色濾光片的最低峰值透射比、50％(或10％)峰值透射比處的帶寬、峰值波長以及在通帶外規定波段內的最大透射比應在詳細規范中規定。 2.2.3 漫射器 漫射器的光譜透射比和發光強度的空間分布應在詳細規范中規定。 2.2.4 光源 優先采用單色光源。當不要求單色光源時，除了測試方法允許有較寬的色溫范圍之外，應采用經色溫為2856±20K光源(標準A光源)校準的鎢燈。 光束的最大允許發散角應在詳細規范中規定。 3 光電參數測試 3.1 光電陰極靈敏度 3.1.1 定義 3.1.1.1 光照靈敏度 光電流除以入射光通量所得的商。 3.1.1.2 輻照靈敏度 光電流除以入射輻射功率所得的商。 3.1.2 測試程序 在電子管的陰極和其他連接在一起的電極之間加規定的電壓，用規定的光通量或輻射功率平行于輸入光軸均勻地照射光電陰極規定的面積，并采用規定的濾光片。測量輻照時和未輻照時的陰極電流。 光電陰極靈敏度按式(1)計算： (1) 式中：?——光通量或輻射功率，lm或W； I1——輻照時的陰極電流(包括漏電流和光電陰極的暗電流μA)，或mA； I2——未輻照時的陰極電流(包括漏電流和光電陰極的暗電流)，μA或mA。 在計算靈敏度時，采用光通量或輻射功率分別地得出光照靈敏度(μA/lm)或輻射靈敏度(mA/W)。 本試驗只適用于那些可以連通各電極的電子管。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 光電陰極被輻照的面積； 光電陰極和其他連在一起的電極之間的電壓； 光通量和(或)輻射功率； 光源特性(見2.2.4條)； 濾光片要求(見2.2.2條)。 3.2 等效背景照度 3.2.1 定義 使輸出亮度增加到等于僅由于電子管暗電流而產生的平均背景亮度二倍時的入射光照度。 3.2.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，在光電陰極上不加光照，并在規定的穩定時間之后，用規定的亮度計測量輸出光軸方向上熒光屏規定面積內的平均亮度，記下亮度計的讀數。 用規定光源發出的平行于輸入光軸并具有規定照度的光，均勻地照射在光電陰極上規定的面積，記錄亮度計的讀數，則等效背景照度按式(2)計算： (2) 式中：R1——光電陰極未加光照時，亮度計的讀數； R2——光電陰極加光照時，亮度計的讀數； E——光電陰極的照度。 除非詳細規范中另有規定，由于讀數R1或R2有波動，應觀測30秒，讀取R1和R2。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 穩定的時間(無光照時)； 光電陰極被光照的面積； 光電陰極的照度； 熒光屏被測亮度的面積； 亮度計的特性(暗電流、線性度)； 光源特性(見2.2.4條)和最大發散角。 3.3 亮度增益或輻射增益 3.3.1 定義 3.3.1.1 亮度增益 熒光屏規定面積內的輸出平均亮度除以光電陰極上規定面積內規定光譜分布的均勻照度所得之商。 3.3.1.2 輻射增益 熒光屏規定面積內、規定光譜分布的平均輻射度除以投射到光電陰極上被測面積內、規定光譜分布的均勻輻照度所得之商。 3.3.2 測試程序 用規定光源的規定照度或輻照度平行于輸入光軸均勻地照射光電陰極的規定區域。按詳細規范規定對電子管各電極加電壓。在規定的穩定時間之后，用規定的亮度計或輻射計測量熒光屏規定區域內的亮度或輻射度。其亮度增益或輻射增益按下式計算： (3) 式中：L——亮度或輻射度，cd/m2或W/(sr·m2)； E——照度或輻照度，lx或W/m2。 計算時，由亮度和照度求得亮度增益，由輻射度和輻照度求得輻射增益。 亮度增益和輻射增益還可以按下式計算： (4) 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 光源特性(見2.2.4條)和最大發散角； 光電陰極的照度或輻照度； 光電陰極被照射的面積； 亮度計或輻射計的相應光譜靈敏度和接收角； 穩定的時間； 熒光屏上被測亮度或輻射度的面積。 3.4 反向工作電壓 3.4.1 定義 電子管耐反向電源電壓的能力。 3.4.2 測試程序 在光電陰極整個面積上均勻地照明，使之達到規定的照度，該照度可以為零。在電子管的規定連接端加上規定的反向電壓，并持續規定的時間。撤除電壓后，在規定的恢復時間終了，按詳細規范規定進行檢測。 本試驗只適用于帶組合電源的電子管。 在詳細規范中應規定的條件： 光電陰極的照度； 反向工作電壓； 加反向電壓的持續時間； 恢復時間； 加反向工作電壓后的檢測要求。 3.5 輸出亮度的均勻性 3.5.1 定義 在規定的入射光照下，熒光屏輸出亮度的空間變化，一般用輸出亮度最大值和最小值之比來表示。 3.5.2 測試程序 用規定的光源和照度平行于輸入光軸均勻地照射光電陰極整個面積。按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，用目測法檢測熒光屏亮度明顯的不均勻性。再用亮度計測量熒光屏上規定區域內輸出亮度變化量，這個變化量可以采用圖表表示出來。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 熒光屏被檢測的面積； 光源特性(見2.2.4條)； 光電陰極的照度； 亮度計的光譜靈敏度和接收角。 3.6 極限工作電壓 3.6.1 定義 電子管耐極限工作電壓的能力。 3.6.2 測試程序 用規定照度的光照射光電陰極整個面積，這個照度可以為零。電子管加上工作電壓并調節到規定的極限電壓值。在規定的時間內觀察熒光屏，不允許出現明亮的光斑、條紋、閃光和比平均背景亮度更強的其他形狀的缺陷。在規定的觀測時間終了，撤除極限電壓后，按詳細規范規定進行檢測。 在詳細規范中應規定的條件： 光電陰極的照度； 電子管的工作條件； 極限工作電壓； 觀測期的持續時間； 加極限工作電壓后的檢測要求。 3.7 輸入電流 3.7.1 定義 電子管工作時，流過輸入電路的電流。 3.7.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，用規定照度的光均勻地照射光電陰極整個面積，該照度可以為零。測量流過輸入端的平均電流或峰值電流。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 光電陰極的照度； 供電電源的輸入阻抗(如適用)； 測量回路的電阻(如適用)。 3.8 調制傳遞函數 3.8.1 定義 調制傳遞因數與空間頻率之間的關系。調制傳遞因數是在某一空間頻率下，傳遞正弦波圖案時，輸出圖像調制深度與輸入圖像調制深度的比值。 3.8.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓。用規定的光源和照度照射，將規定尺寸的狹縫圖案聚焦于電子管的光電陰極的規定區域內。用合適的物鏡將熒光屏上的像聚焦于像分析器上。分析器的正弦波圖案以一定的速度掃描狹縫像，對輸出圖像進行付立葉卷積。用規定的光電倍增管接收卷積信號，得到相應于各不同空間頻率的實時信號。用和各不同空間頻率的基頻相匹配的帶通濾波器對各卷積信號實時濾波來分析光電倍增管的輸出，得到各空間頻率下輸出信號的峰值振幅，對最低空間頻率信號的峰值振幅歸一。 本試驗主要適用于放大率為1的電子管。 在詳細規范中應規定的條件是： 電子管的工作條件； 光源特性(見2.2.4條)； 狹縫圖案的尺寸； 狹縫圖案在光電陰極面上的照度； 光電陰極被照的面積； 正弦波圖案； 光電倍增管的光譜靈敏度； 物鏡特性。 3.9 像對準 3.9.1 定義 光輸入中心在輸出熒光屏上的像和輸出中心之間的距離。 3.9.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓。使測試顯微鏡與電子管的輸出光軸對準。將一個測試光點(一般是十字線的交點)投射到電子管的輸入中心。觀測光點在屏上所成的圖像，并測量它與輸出中心的距離。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 測試光點的形狀和尺寸。 3.10 像位移 3.10.1 定義 由于電源通斷而引起圖像位置的變化。 3.10.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，使電子管輸出光軸與測試顯微鏡對準。將測試光點(一般是十字線的交點)投射到電子管的輸入中心。觀測熒光屏上光點的圖像并記下它的位置。斷開電源并按照詳細規范中規定的程序放電，然后重新供電，并在規定的穩定時間之后再測量該光點圖像的位置。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 測試光點的形狀和尺寸； 重新供電后的穩定時間； 電子管的放電程序。 3.11 像漂移 3.11.1 定義 圖像在規定時間內的移動。 3.11.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓。將測試光點(一般是十字線的交點)投射到電子管的輸入中心，在規定的穩定時間之后，使測試顯微鏡對準測試光點的圖像，當電子管在規定的工作條件下經過規定的漂移時間之后，測量此試驗光點的圖像與原有位置之間的偏移。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 測試光點的形狀和尺寸； 穩定時間； 漂移時間。 3.12 分辨率 3.12.1 定義 電子管分辨規定圖像明暗細節的能力。 3.12.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，通過一光學系統，在光電陰極規定的面積上投射規定的測試圖，此光學系統不得明顯地降低測試圖的清晰度。然后用合適的放大鏡觀測熒光屏，并調整規定光源的照度，以獲得最好的圖像對比度。此時，應能辨認出測試圖的單根線條。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件： 光電陰極面上投射測試圖的區域； 測試圖； 光源特性； 放大鏡的放大倍數。 3.13 熒光屏的最大亮度 3.13.1 定義 在規定的光電陰極照度范圍內，熒光屏規定區域內亮度的最大值。 3.13.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，用規定光源以規定的最小照度均勻照射光電陰極整個面積。在所規定的照度范圍內緩慢地增加照度，在輸出光軸方向上用規定的亮度計測量熒光屏規定區域內的亮度，并記下最大亮度值和這個最大值所對應的光電陰極的照度。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 熒光屏被測的區域； 光電陰極照度的范圍； 光源特性(見2.2.4條)； 亮度計的光譜靈敏度與接收角。 3.14 殘余氣體 3.14.1 定義 電子管內殘余氣體的量。 3.14.2 測試程序 緊貼光電陰極放置一個規定直徑的不透光圓盤，并與輸入光軸同心。緊貼熒光屏放置一個規定直徑的圓形孔闌，并與輸出光軸同心。按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，以規定的照度照射光電陰極，并用規定的放大鏡觀察熒光屏，在熒光屏的中心，不應有擴散的光斑(離子斑)或亮度較高的區域。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 光電陰極的照度； 放大鏡的放大倍數； 不透光圓盤的直徑； 熒光屏上圓形孔闌的直徑(應比不透光圓盤在熒光屏上產生的像稍小)。 3.15 輸出寄生信號 3.15.1 定義 亮度明顯高于平均背景亮度并引起亂真輸出信號的缺陷。 3.15.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，在光電陰極無輻照情況下，如果需要可采用合適的放大鏡仔細觀察熒光屏上規定的區域。不允許出現明亮的光斑、條紋、閃光以及高于平均背景亮度的其他形狀亮缺陷。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 熒光屏被檢查的區域； 觀測條件。 3.16 光電陰極和熒光屏缺陷 3.16.1 定義 熒光屏上亮度分布的局部不完善性。 3.16.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，以一定的照度均勻照射光電陰極，并用規定的放大鏡觀察熒光屏，在規定的范圍內調節光電陰極照度，使缺陷對比度最大，按詳細規范規定檢驗缺陷。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 放大鏡的放大倍數； 光電陰極照度范圍； 缺陷的規范。 3.17 放大率 3.17.1 定義 熒光屏上輸出圖像尺寸與光電陰極上輸入圖像尺寸之比。 3.17.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，在電子管的光電陰極上，投射一個規定直徑并與電子管輸入光軸同心的圓。在光電陰極上采用合適的照度。使用測量顯微鏡來測定圓在熒光屏上所成像的直徑。電子管的放大率為輸出圖像直徑與輸入圖像直徑之比。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 投射圓直徑及其公差。 3.18 畸變 3.18.1 定義 放大率隨輸入圖像直徑的變化。 3.18.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，并按照3.17條測量兩個不同直徑投射圓的放大率。畸變按下式計算： (5) 式中：Md——小直徑投射圓的放大率； MD——大直徑投射圓的放大率。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 小投射圓直徑及其公差； 大投射圓直徑及其公差。 3.19 光電陰極有效直徑 3.19.1 定義 光電陰極上與輸入光軸同心的最大圓的直徑，該圓應在熒光屏上完整成像。 3.19.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，在光電陰極上投射規定直徑的圓或不透明圓盤的測試圖，這個圓或圓盤應與輸入光軸同心，如有規定，可用放大鏡來觀察熒光屏，調節光電陰極照度使圖像對比度最佳，該圓或圓盤像的整個邊緣輪廓線應清晰可見。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 圓或圓盤的直徑。 3.20 像旋轉 3.20.1 定義 輸出圖像相對于輸入圖像的旋轉角。 3.20.2 測試程序 緊貼光電陰極放置規定孔闌的圓盤，使孔闌與輸入中心同心。按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓。在光電陰極上投射十字線圖像，使其交點與電子管輸入中心重合。用合適的具有十字線標度的低倍顯微鏡觀察輸出熒光屏。在四個象限中，測量相對于輸入圖像的輸出圖像最大旋轉角(見圖1)。 在光電陰極上，圖像的直線 在輸出熒光屏上，圖像的直線 孔闌直徑 圖1 本試驗適用于磁聚焦電子管。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 孔闌的直徑(一般規定為光電陰極最小直徑的10％)。 3.21 “S”形畸變 3.21.1 定義 輸出圖像相對于輸入直線圖像變成“S”形的幾何畸變。 3.21.2 測試程序 緊貼光電陰極放置規定孔闌的圓盤，使孔闌與輸入中心同心。按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓。在光電陰極上投射十字線圖像，使其交點與電子管的輸入中心重合。用合適的具有十字線標度的低倍顯微鏡觀察輸出熒光屏，測量每一個象限中的?S和?R(見圖1和圖2)。這兩個角度的最大差值|?S－?R|即為“S”形畸變。 在光電陰極上，圖像的直線 在輸出熒光屏上，圖像的直線 孔闌直徑 圖2 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 孔闌的直徑(通常規定為光電陰極最小直徑的80％)。 3.22 轉換因數 3.22.1 定義 X射線像增強管輸出熒光屏中心區亮度與入射面中心處的X射線劑量率之比。 3.22.2 測試原理 測試原理圖如圖3所示。 被測管 附加過濾器 X射線管 亮度計 X射線屏蔽板 圖3 L1—被測管入射面與X射線管焦點的距離；L2—附加過濾器與X射線管焦點的距離 3.22.3 測試程序 使電子管的入射面中心與X射線管焦點的距離為規定值。距X射線管焦點規定距離以內放置一規定的附加過濾器，調節X射線管陽極電壓。使電子管入射面的X射線線質(第一半階層)達到規定值。固定X射線管陽極電壓，調節X射線管的陽極電流，使電子管入射面中心處的X射線劑量率達到規定值，輻照電子管整個有效面積。 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，用亮度計測量輸出熒光屏規定區域內的平均亮度，轉換因數按下式計算： (6) 式中：GX——轉換因數，cd·m－2·C－1·kg·s(cd·m－2·mR－1·s)； L——輸出熒光屏平均亮度，cd·m－2； P——X射線劑量率，C·kg－1·s－1(mR·s－1)。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管工作條件； 電子管入射面中心與X射線管焦點間距離； 附加過濾器至X射線管焦點距離； 附加過濾器的材料厚度、純度； X射線管焦點與入射面之間的總濾過量； X射線線質(第一半階層)； X射線劑量率； 輸出熒光屏測量區域； X射線管電壓波紋系數； 亮度計光譜靈敏度與接收角。 3.23 對比率 3.23.1 定義 電子管入射面中心區前未放置與放置X射線遮擋物時的輸出熒光屏中心亮度值之比。 3.23.2 測試原理圖 測試原理圖如圖4所示。 電子管 X射線管 X射線遮擋物 亮度計 X射線屏蔽板 圖4 l——被測管入射面中心與X射線管焦點的距離 3.23.3 測試程序 使電子管入射面中心至X射線管焦點距離為規定值，X射線管加規定的陽極電壓、電流，使X射線束輻照電子管整個有效面積。按詳細規范規定在電子管各電極上加電壓，用亮度計分別測出入射面有無X射線遮擋圓盤時輸出熒光屏中心區域的亮度，圓盤中心應和熒光屏中心重合。對比率按下式計算： (7) 式中：L1——放置X射線遮擋圓盤時輸出熒光屏亮度，cd·m－2； L2——未放置遮擋圓盤時輸出熒光屏亮度，cd·m－2。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 電子管入射面中心與X射線管焦點間距離； X射線遮擋圓盤的材料、直徑和厚度； X射線管陽極電壓和電流； 輸出熒光屏被測區域； 亮度計光譜靈敏度和接收角。 3.24 固定圖案噪聲 3.24.1 定義 3.24.1.1 復絲間固定圖案噪聲 熒光屏顯示的相鄰復絲間亮度差異。 3.24.1.2 復絲邊界固定圖案噪聲 熒光屏顯示的復絲內部與邊界間的亮度差異。 3.24.2 測試程序 按詳細規范規定對電子管各電極加上電壓，以規定照度的光均勻照射整個光電陰極，用規定的放大鏡觀察熒光屏上復絲圖像的亮度變化。 在復絲間亮度差異最明顯的區域測量復絲間固定圖案噪聲。用規定孔徑的掃描亮度計測量對比度最大的相鄰復絲間的亮度，復絲間固定圖案噪聲按下式計算： (8) 式中：?L——復絲間的亮度差； ——亮度平均值。 在復絲內部與邊界間亮度差異最明顯的區域測量復絲邊界固定圖案噪聲。用規定孔徑的掃描亮度計測量三個相鄰復絲的邊界和內部的亮度，復絲邊界固定圖案噪聲按下式計算： (9) 式中： ——復絲邊界亮度的平均值； ——相鄰復絲亮度的平均值。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管的工作條件； 光電陰極的照度； 放大鏡的倍數； 掃描亮度計的孔徑，光譜靈敏度。 3.25 信噪比 3.25.1 定義 在規定的電子測量系統帶寬內，電子管輸出信號的平均值與輸出信號中噪聲均方根值之比。 3.25.2 測試程序 用規定的光源、規定的照度均勻照射光電陰極上規定面積，按詳細規范規定對電子管各極加上電壓，用規定的透鏡和規定的采樣孔徑，將熒光屏上輸出像聚焦在規定的光電倍增管上，光電倍增管的輸出電流通過規定的低通濾波器。用直流電流計測光電倍增管的輸出電流，用均方根電流計測低通濾波器的輸出電流。 在無輸入輻照時，應用相同方法測電子管背景信號電流和背景信號電流中噪聲均方根值。 電子管的信噪比按下式計算： (10) 式中：K——規化系數； S——輸出信號電流，μA； B——背景信號電流，μA； σS——輸出噪聲電流均方根值，μA； σB——背景噪聲電流均方根值，μA； NEB——測量系統的實際噪聲等效帶寬，Hz； BF——規定的低通濾波器噪聲等效帶寬(大約10Hz)。 在詳細規范中應規定的條件： 電子管工作條件； 光源特性(見2.2.4條)； 光電陰極上的照度； 光電陰極被照面積； 透鏡特性和采樣孔徑； 光電倍增管特性； 電子低通濾波器的噪聲等效帶寬。 附加說明： 本標準由中華人民共和國機械電子工業部提出。