標(biāo)準(zhǔn)編號:	GB/T 15297-1994
中文名稱:	微電路模塊機械和氣候試驗方法
英文名稱:	Mechanical and climatic test methods for microcircuit modules
中標(biāo)分類:	L55    微電路綜合
行業(yè)分類:	GB    國家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	31.200 31.200    集成電路、微電子學(xué) 31.200
發(fā)布機構(gòu):	國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1994-01-02
實施日期:	1995-7-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	abolished
作廢日期:	2005-10-14
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	作廢
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	15000 字
翻譯價格(元):	2280.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了微電路模塊在規(guī)定條件下進行的機械和氣候試驗方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于模塊的研制、生產(chǎn)、交收各階段的試驗項目，以評價模塊對機械和氣候試驗的適應(yīng)能力。