標準編號:	GB/T 16594-2008
中文名稱:	微米級長度的掃描電鏡測量方法通則
英文名稱:	General rules for measurement of length in micron scale by SEM
中標分類:	N53    電化學、熱化學、光學式分析儀器
行業分類:	GB    國家標準
ICS分類:	71.040.99 71.040.99    有關化學分析方 71.040.99
發布機構:	中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發布日期:	2008-9-18
實施日期:	2009-5-1
標準狀態:	valid
替代舊標準:	GB/T 16594-1996 微米級長度的掃描電鏡測量方法
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數:	16000 字
翻譯價格(元):	1440.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準代替GB/T 16594-1996《微米級長度的掃描電鏡測量方法》。
本標準規定了微米級長度的掃描電鏡測量方法的通用原則。
本標準與GB/T 16594-1996相比主要變化如下：
———將“測量方法”改為“測量方法通則”；
———將“誤差分析”改為“不確定度評定”；
———增加樣品變形產生的不確定度評定；
———改用實驗方法獲取圖像測量的瞄準不確定度量值；
———增加“被測長度方向的調整”附錄。