標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 17723-1999
中文名稱:	黃金制品鍍層成分的 X 射線能譜測(cè)量方法
英文名稱:	Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX
中標(biāo)分類:	N33    電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	37.020 37.020    光學(xué)設(shè)備 37.020
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1999-04-01
實(shí)施日期:	1999-1-2
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
被替代日期:	2009-5-1
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	6000 字
翻譯價(jià)格(元):	700.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了應(yīng)用掃描電鏡X射線能譜儀（包括裝有X射線能譜儀的電子探針儀）對(duì)鍍金制品表面金及金合金單層均勻鍍層成分的非破壞性分析測(cè)量方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于表面鍍金及金合金，其鍍層厚度為0.2μm以上，3μm以下范圍內(nèi)的成分測(cè)量(不包括基體和金鍍層材料相近的鍍層成分的測(cè)量)。