標準編號:	GB/T 20726-2015
中文名稱:	微束分析 電子探針顯微分析X射線能譜儀主要性能參數及核查方法
英文名稱:	Microbeam analysis - Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
中標分類:	G04    基礎標準與通用方法
行業分類:	GB    國家標準
ICS分類:	71.040.99 71.040.99    有關化學分析方 71.040.99
發布機構:	中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發布日期:	2015-10-09
實施日期:	2016-9-1
標準狀態:	valid
替代舊標準:	GB/T 20726-2006 半導體探測器X射線能譜儀通則
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數:	15000 字
翻譯價格(元):	290.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規定了表征以半導體探測器、前置放大器和信號處理系統為基本構成的X-射線能譜儀（EDS）特性最重要的性能參數。本標準僅適用基于固態電離原理的半導體探測器能譜儀。本標準規定了與掃描電鏡（SEM）或電子探針（EPMA）聯用的EDS性能參數的最低要求以及核查方法。至于實際分析過程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有規范，不在本標準范圍之內。