標準編號:	GB/T 23413-2009
中文名稱:	納米材料晶粒尺寸及微觀應(yīng)變的測定 X射線衍射線寬化法
英文名稱:	Determination of crystallite size and micro - strain of nano - Materials - X - ray diffraction line broadening method
中標分類:	N78    X射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器
行業(yè)分類:	GB    國家標準
ICS分類:	19.100 19.100    無損檢測 19.100
發(fā)布機構(gòu):	國家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	2009-4-1
實施日期:	2009-12-1
標準狀態(tài):	valid
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	10000 字
翻譯價格(元):	600.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規(guī)定了利用X射線衍射線寬化法來測定納米材料晶粒尺寸和微觀應(yīng)變的方法。本標準采用的計算方法是近似函數(shù)法。
本標準適用于測定晶粒尺寸一般不大于100nm，微觀應(yīng)變一般不大于0.1%的納米材料。