標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 2423.27-2005
中文名稱:	電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
英文名稱:	Environmental testing for electric and electronic products - Part 2: Test Methods Test Z/AMD: Combined sequential cold, low air pressure and damp heat test
中標(biāo)分類:	K04    基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法
行業(yè)分類:	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	19.040 19.040    環(huán)境試驗(yàn) 19.040
發(fā)布機(jī)構(gòu):	中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
發(fā)布日期:	2005-8-26
實(shí)施日期:	2006-4-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 2423.27-2020 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)方法和導(dǎo)則：溫度/低氣壓或溫度/濕度/低氣壓綜合試驗(yàn)
被替代日期:	2021-1-1
替代舊標(biāo)準(zhǔn):	GB/T 2423.27-1981
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	4000 字
翻譯價(jià)格(元):	600.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本部分提供了由低溫、低氣壓和濕熱組成的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗(yàn)程序。首先低溫和低氣壓結(jié)合在一起，其次升溫，然后與濕熱條件結(jié)合在一起。本試驗(yàn)應(yīng)用了試驗(yàn)A和試驗(yàn)M。雖然未完全按照試驗(yàn)D引入濕度，但用“Z/AMD”來表示本試驗(yàn)最恰當(dāng)和最具提示性。本試驗(yàn)用于飛行器所使用的器件和設(shè)備，特別是在非加熱和非增壓部位的器件和設(shè)備。