標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):	GB/T 6624-1995
中文名稱(chēng):	硅拋光片表面質(zhì)量目測(cè)檢驗(yàn)方法
英文名稱(chēng):	Standard method for measuring the surface quality of polished silicon slices by visual inspection
中標(biāo)分類(lèi):	H21    金屬物理性能試驗(yàn)方法
行業(yè)分類(lèi):	GB    國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國(guó)家技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1995-04-18
實(shí)施日期:	1995-1-2
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	superseded
被新標(biāo)準(zhǔn)替代:	GB/T 6624-2009 硅拋光片表面質(zhì)量目測(cè)檢驗(yàn)方法
被替代日期:	2010-6-1
翻譯語(yǔ)言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	4000 字
翻譯價(jià)格(元):	720.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在一定光照條件下，用目測(cè)檢驗(yàn)硅單晶單面拋光片表面質(zhì)量的方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅拋光片表面質(zhì)量檢驗(yàn)。