標(biāo)準(zhǔn)編號:	YB/T 172-2000
中文名稱:	硅磚定量相分析 X射線衍射法
英文名稱:	Phase quantitative analysis of silica bricks-X-ray diffraction method
中標(biāo)分類:	Q41    硅質(zhì)耐火材料
行業(yè)分類:	YB    冶金行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
ICS分類:	81.080 81.080    耐火材料 81.080
發(fā)布機(jī)構(gòu):	國家冶金工業(yè)局
發(fā)布日期:	2000-07-26
實(shí)施日期:	2000-12-1
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài):	valid
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	6000 字
翻譯價(jià)格(元):	700.0
交付時(shí)間:	付款后 1~3 個(gè)工作日

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了硅磚X射線定量相分析的定義、原理、儀器設(shè)備、標(biāo)樣、試樣制備、定量分析、試驗(yàn)報(bào)告。本標(biāo)準(zhǔn)適用于硅磚中鱗石英、方石英及殘余石英的定量分析。