標準編號:	GB/T 5201-1994
中文名稱:	帶電粒子半導體探測器測試方法
英文名稱:	Test procedures for semiconductor charged particle detectors
中標分類:	F80    核儀器與核探測器綜合
行業(yè)分類:	GB    國家標準
ICS分類:	17.240 17.240    輻射測量 17.240
發(fā)布機構(gòu):	國家質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局
發(fā)布日期:	1994-1-2
實施日期:	1995-10-1
標準狀態(tài):	superseded
被新標準替代:	GB/T 5201-2012 帶電粒子半導體探測器測量方法
被替代日期:	2012-11-1
替代舊標準:	GB 5201-1985
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數(shù):	14000 字
翻譯價格(元):	1360.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規(guī)定了帶電粒子半導體探測器電特性和核輻射性能的測試方法以及某些特殊環(huán)境的試驗方法。本標準適用于探測帶電粒子的部分耗盡金硅面壘型、鋰漂移金硅面壘型和表面鈍化離子注入平面硅型等半導體探測器。全耗盡金硅面壘型探測器的某些性能測試也應參照本標準執(zhí)行。