標準編號:	GB/T 5201-2012
中文名稱:	帶電粒子半導體探測器測量方法
英文名稱:	Test procedures for semiconductor charged particle detectors
中標分類:	F88    核探測器
行業分類:	GB    國家標準
ICS分類:	27.120 27.120    核能工程 27.120
發布機構:	國家標準化委員會 國家質量監督檢驗檢疫總局
發布日期:	2012-6-29
實施日期:	2012-11-1
標準狀態:	valid
替代舊標準:	GB/T 5201-1994 帶電粒子半導體探測器測試方法
翻譯語言:	英文
文件格式:	PDF
中文字符數:	18000 字
翻譯價格(元):	1280.0
交付時間:	付款后 1~3 個工作日

本標準規定了帶電粒子半導體探測器的電特性和核輻射性能的測量方法以及某些特殊環境的試驗方法。
本標準適用于帶電粒子部分耗盡層的半導體探測器。
全耗盡型半導體探測器的測量可參照本標準執行。