Codeofchina.com is in charge of this English translation. In case of any doubt about the English translation, the Chinese original shall be considered authoritative.
GB/T 20840 consists of the following parts under the general title Instrument transformers:
——Part 1: General requirements;
——Part 2: Additional requirements for current transformers;
——Part 3: Additional requirements for inductive voltage transformers;
——Part 4: Additional requirements for combined transformers;
——Part 5: Additional requirements for capacitor voltage transformers;
——Part 6: Additional general requirements for low-power instrument transformers;
——Part 7: Electronic voltage transformers;
——Part 8: Electronic current transformers;
——Part 9: Digital interface for instruments transformers.
This is Part 6 of GB/T 20840.
This part is developed in accordance with the rules given in GB/T 1.1-2009.
This part shall be used together with GB/T 20840.1-2010 Instrument transformers - Part 1: General requirements. This part follows the compiling structure of GB/T 20840.1 and is an addition and modification of the corresponding clauses thereof. The clauses of GB/T 20840.1 not mentioned in this part are applicable to this part as long as they are reasonable. Where "addition", "modification" or "substitution" is indicated in this part, it means that the relevant provisions of GB/T 20840.1 have been adapted accordingly in this part.
For clauses, subclauses, figures, tables, notes and annexes added on the basis of GB/T 20840.1-2010, this part adopts the following numbering form:
——clauses, subclauses, figures and tables are numbered from 601;
——annexes are numbered 6A and 6B.
This part has been redrafted and modified in relation to IEC 61869-6:2016 Instrument transformers - Part 6: Additional requirements for current transformers.
The following structural changes have been made with respect to IEC 61869-6:2016:
——the title of 3.2 in IEC 61869-6:2016 is deleted, with its contents incorporated into 3.3, and the title of 3.3 is changed to "Definitions related to current or voltage ratings";
——7.2.1.1 of IEC 61869-6:2016 is adjusted to 7.2.1.2 of this part;
——7.3.1, 7.3.4 and 7.3.5 of IEC 61869-6:2016 are adjusted as 7.3.2, 7.3.6 and 7.3.7 of this part;
——the sequence of Annex 6B and Annex 6C of IEC 61869-6:2016 is exchanged in this part.
The main technical differences of this part from IEC 61869-6:2016 and their justifications are as follows:
——the adjustment on technical differences are made for the normative references of this Part to adapt to the technical conditions in China. The adjustments are mainly reflected in Clause 2 "Normative references", which are shown as follows:
? IEC 60812:2006 is replaced by GB/T 7826, which is identical to the international standard;
? IEC 61000-4-11:2004 is replaced by GB/T 17626.11, which is identical to the international standard;
? IEC 61000-4-29:2000 is replaced by GB/T 17626.29, which is identical to the international standard;
? IEC 61869-1:2007 is replaced by GB/T 20840.1-2010, which is modified in relation to the international standard;
? IEC 61869-2:2012 is replaced by GB/T 20840.2-2014, which is modified in relation to the international standard;
? IEC 61869-3:2011 is replaced by GB/T 20840.3-2013, which is modified in relation to the international standard;
——in order to adapt to the voltage conditions in China, in 5.3.601.2, the preferred a.c. voltage is changed from "100V~230V" to "110V, 220V";
——in order to adapt to national conditions of China, in Table 11 of 7.1.2, "gas dew point test" and "measurement of capacitance and dielectric dissipation factor" are adjusted from special tests to routine tests;
——in order to adapt to the climatic conditions in China, in 7.2.601.1, the ambient air temperature during the test is changed from "10℃~30℃" to "5℃~40℃";
——in order to adapt to national conditions of China, in Annex 6A, Figure 6A.2 is drawn according to "fr=50Hz, fs=4,000Hz" instead of "fr=60Hz, fs=4,800Hz".
The following editorial changes have been made in this part:
——IEC 60044-7:1999, IEC 60050-321:1986, IEC 60050-421:1990, IEC 61869 (all parts), IEC 61869-7 and IEEE C37.92-2005 in bibliography of IEC 61869-6:2016 are deleted.
This part was proposed by China Electrical Equipment Industrial Association.
This standard is under the jurisdiction of National Technical Committee on Instrument Transformers of Standardization Administration of China (SAC/TC 222).
Instrument transformers - Part 6: Additional general requirements for low-power instrument transformers
1 Scope
This part of GB/T 20840 covers additional general technical requirements for low-power instrument transformers (LPIT) used for a.c. applications having rated frequencies from 15Hz to 100Hz or used for d.c. applications. This product standard is based on GB/T 20840.1, in addition to the relevant product specific standard.
This part does not cover the specification for the digital output format of instrument transformers.
This part defines the errors in case of analogue or digital output. The other characteristics of the digital interface for instrument transformers are specified in GB/T 20840.9 as an application of the standards, which details layered substation communication architecture.
This part considers additional requirements concerning bandwidth. The accuracy requirements on harmonics and requirements for the anti-aliasing filter are given in Annex 6A.4.
The general block diagram of single-phase LPIT is given in Figure 601.
According to the technology, it is not absolutely necessary that all parts described in Figure 601 are included in the instrument transformer.
As an example, for low-power passive transformers (LPITs without active electronic components), the blocks are composed only with passive components and there is no power supply.
Figure 601 General block diagram of a single-phase LPIT
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
Clause 2 of GB/T 20840.1-2010 is applicable with the following additions:
GB/T 7826 Analysis techniques for system reliability - Procedure for failure mode and effects analysis (FMEA) (GB/T 7826-2012, IEC 60812:2006, IDT)
GB/T 17626.11 Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests (GB/T 17626.11-2008, IEC 61000-4-11:2004, IDT)
GB/T 17626.29 Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity tests (GB/T 17626.29-2006, IEC 61000-4-29:2000, IDT)
GB/T 20840.1-2010 Instrument transformers - Part 1: General requirements (IEC 61869-1:2007, MOD)
GB/T 20840.2-2014 Instrument transformers - Part 2: Additional requirements for current transformers (IEC 61869-2:2012, MOD)
GB/T 20840.3-2013 Instrument transformers - Part 3: Additional requirements for inductive voltage transformers (IEC 61869-3:2011, MOD)
IEC 60068-2-6:2007 Environmental testing - Part 2-6: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)
IEC 60255-27:2013 Measuring relays and protection equipment - Part 27: Product safety requirements
IEC 60603-7-1:2011 Connectors for electronic equipment - Part 7-1: Detail specification for 8-way, shielded, free and fixed connectors
IEC 60794-2:2002 Optical fibre cables – Part 2: Indoor cables - Sectional specification
IEC 60794-3:2014 Optical fibre cables – Part 3: Outdoor cables - Sectional specification
IEC 61000-4-1:2006 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-1: Testing and measurement techniques - Overview of IEC 61000-4 series
IEC 61000-4-2:2008 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-2: Testing and measurement techniques - Electrostatic discharge immunity test
IEC 61000-4-3:2006+IEC 61000-4-3:2006/AMD1:2007+IEC 61000-4-3:2006/AMD2:2010 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-3: Testing and measurement techniques - Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test
IEC 61000-4-4:2012 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-4: Testing and measurement techniques - Electrical fast transient/burst immunity test
IEC 61000-4-5:2014 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-5: Testing and measurement techniques - Surge immunity test
IEC 61000-4-6:2013 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-6: Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
IEC 61000-4-7:2002+IEC 61000-4-7:2002/AMD1:2008 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-7: Testing and measurement techniques - General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation, for power supply systems and equipment connected thereto
IEC 61000-4-8:2009 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-8: Testing and measurement techniques - Power frequency magnetic field immunity test
IEC 61000-4-9:1993+IEC 61000-4-9:1993/AMD1:2000 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-9: Testing and measurement techniques - Section 9: Pulse magnetic field immunity test
IEC 61000-4-10:1993+IEC 61000-4-10:1993/AMD1:2000 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-10: Testing and measurement techniques - Section 10: Damped oscillatory magnetic field immunity test. Basic EMC Publication
IEC 61000-4-13:2002+IEC 61000-4-13:2002/AMD1:2009 Electromagnetic compatibility (EMC) - Testing and measurement techniques - Harmonics and interharmonics including mains signaling at a.c. power port, low frequency immunity test
IEC 61000-4-16:1998+IEC 61000-4-16:1998/AMD1:2001+IEC 61000-4-16:1998/AMD2:2009 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-16: Testing and measurement techniques - Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz
IEC 61000-4-18:2006+IEC 61000-4-18:2006/AMD1:2010 Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-18: Testing and measurement techniques - Damped oscillatory wave immunity test
IEC 61025:2006 Fault tree analysis (FTA)
IEC 61076-2-101:2012 Connectors for electronic equipment - Product requirements - Part 2-101: Circular connectors - Detail specification for M12 connectors with screw-locking
IEC 61850-2:2003 Communication networks and systems in substations - Part 2: Glossary
IEC 61850-7-4:2010 Communication networks and systems for power utility automation - Part 7-4: Basic communication structure - Compatible logical node classes and data object classes
IEC/TR 61869-103:2012 Instrument Transformers - The use of instrument transformers for power quality measurement
IEC 62271-100:2008 High-voltage switchgear and controlgear - Part 100: Alternating current circuit-breakers
ISO/IEC/IEEE 21451-4:2010 Information technology - Smart transducer interface for sensors and actuators - Part 4: Mixed-mode communication protocols and Transducer Electronic Data Sheet (TEDS) formats
CISPR 11:2015 Industrial, scientific and medical equipment - Radio-frequency disturbance characteristics - Limits and methods of measurement
EN 50160:2010 Voltage characteristics of electricity supplied by public distribution systems
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in GB/T 20840.1 and the following apply.
3.1 General definitions
3.1.601
low-power instrument transformer
LPIT
arrangement, consisting of one or more current or voltage transformer(s) which may be connected to transmitting systems and secondary converters, all intended to transmit a low power analogue or digital output signal to measuring instruments, meters and protective or control devices or similar apparatus
Example: An arrangement consisting of three current sensors, three voltage sensors connected to one merging unit delivering one digital output is considered an LPIT.
Note 1: LPITs are commonly called non-conventional instrument transformers (NCIT).
Note 2: The output power produced by these devices is typically lower than or equal to 1VA.
3.1.602
low-power current transformer
LPCT
low-power instrument transformer for current measurement
3.1.603
low-power voltage transformer
LPVT
low-power instrument transformer for voltage measurement
3.1.604
measuring LPIT
LPIT intended to transmit an output signal to measuring instruments and meters
3.1.605
protective LPIT
LPIT intended to transmit an output signal to protective and control devices
3.1.606
multipurpose LPIT
LPIT intended for both measurement and protection applications
3.1.607
electronic LPIT
LPIT that includes active components
3.1.608
passive LPIT
LPIT that includes only passive components
3.1.609
input signal
signal corresponding to the current or to the voltage applied between the primary terminals of the LPIT
3.1.610
primary sensor
electrical, optical or other device intended to provide information about the input signal in order to transmit it to the secondary converter, either directly or by means of a primary converter
3.1.611
primary converter
electrical, optical or other device that converts the signal coming from one or more primary sensors into a signal suitable for the transmitting system
3.1.612
primary power supply
auxiliary power supply to the primary converter and/or primary sensor
Note: May be combined with secondary power supply (see 3.1.620).
3.1.613
transmitting system
short- or long-distance coupling arrangement between primary and secondary parts intended to transmit the signal
Note: Depending on the technology used, the transmitting system may also be used for power transmission.
3.1.614
secondary converter
arrangement that converts the signal transmitted through the transmitting system into a signal proportional to the input signal, to supply measuring instruments, meters and protective or control devices
Note: For analogue output, the secondary converter directly supplies measuring instruments, meters and protective or control devices. For digital output, the secondary converter is connected to a merging unit before supplying the secondary equipment.
3.1.615
logical device merging unit
logical device (in the meaning of IEC 61850-7-4:2010) to do the time-coherent combination of logical nodes current transformer (TCTR) and/or logical nodes voltage transformer (TVTR) for building a standard digital output
3.1.616
merging unit, MU
physical device (IED according to IEC 61850-2:2003) in which a logical device merging unit is implemented
Note 1: The merging unit may be part of one of the instrument transformers in the field or may be a separate unit, for example, in the control room.
Note 2: The inputs of the merging unit may be proprietary or standardized.
3.1.617
stand-alone merging unit, SAMU
merging unit with standardized inputs (analogue or digital)
Example 1: SAMU may be used with instrument transformers for retrofit purposes.
Example 2: Digital input of the stand-alone merging unit may be specified according to former GB/T 20840.8-2007 digital output or according to GB/T 20840.9. This possibility ensures the compatibility between GB/T 20840.8-2007 and the new GB/T 20840 series.
3.1.618
merging unit clock input
electrical or optical input of the merging unit that may be used to synchronize several merging units if required
3.1.619
merging unit power supply
auxiliary power supply of the merging unit
Note: A merging unit power supply may be combined with the secondary power supply (see 3.1.620).
3.1.620
secondary power supply
auxiliary power supply of the secondary converter
Note: A secondary power supply may be combined with primary power supply (see 3.1.612) or a power supply of other instrument transformers.
Foreword i
1 Scope
2 Normative references
3 Terms and definitions
4 Normal and special service conditions
5 Ratings
6 Design and construction
7 Tests
601 Information to be given with enquiries, tenders and orders
Annex 6A (Normative) LPIT frequency response and accuracy requirements for harmonics
Annex 6B (Informative) Transient performances of low-power voltage transformers
Annex 6C (Informative) Transient performances of low-power current transformers
Annex 6D (Informative) Test circuits
Annex 6E (Informative) Graph explaining the accuracy requirements for multi-purpose low-power current transformer
Bibliography
互感器 第6部分：低功率互感器
的補(bǔ)充通用技術(shù)要求
1 范圍
GB/T 20840的本部分規(guī)定了額定頻率為15 Hz～100 Hz的交流用途或直流用途的低功率互感器(LPIT)的補(bǔ)充通用技術(shù)要求。本產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)以GB/T 20840.1為基礎(chǔ)，對相關(guān)的專項標(biāo)準(zhǔn)的條款進(jìn)行了增補(bǔ)。
本部分不包括互感器數(shù)字量輸出格式的技術(shù)規(guī)范。
本部分限定了模擬量或數(shù)字量輸出的誤差。互感器數(shù)字接口的其他特性見GB/T 20840.9，并應(yīng)用了變電站分層通訊結(jié)構(gòu)的系列標(biāo)準(zhǔn)。
本部分考慮了涉及帶寬的補(bǔ)充要求。諧波準(zhǔn)確度要求和抗混疊濾波器要求列于附錄6A.4中。
單相LPIT的通用框圖見圖601。
依據(jù)采用的技術(shù)，并非圖601列出的所有部件皆為互感器必不可缺的。
例如，對于無源低功率互感器(不包含有源電子器件的LPIT)，各框塊僅由無源元件構(gòu)成且無電源。
輸入信號
一次傳感器
一次轉(zhuǎn)換器
傳輸系統(tǒng)
二次轉(zhuǎn)換器
輸出信號
一次電源
二次電源
圖601 單相LPIT的通用框圖
2 規(guī)范性引用文件
下列文件對于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 20840.1—2010的第2章與下列增補(bǔ)的內(nèi)容均適用：
GB/T 7826 系統(tǒng)可靠性分析技術(shù) 失效模式和影響分析(FMEA)程序(GB/T 7826—2012，IEC 60812：2006，IDT)
GB/T 17626.11 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(GB/T 17626.11—2008，IEC 61000-4-11：2004，IDT)
GB/T 17626.29 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(GB/T 17626.29—2006，IEC 61000-4-29：2000，IDT)
GB/T 20840.1—2010 互感器 第1部分：通用技術(shù)要求(IEC 61869-1：2007，MOD)
GB/T 20840.2—2014 互感器 第2部分：電流互感器的補(bǔ)充技術(shù)要求(IEC 61869-2：2012，MOD)
GB/T 20840.3—2013 互感器 第3部分：電磁式電壓互感器的補(bǔ)充技術(shù)要求(IEC 61869-3：2011，MOD)
IEC 60068-2-6：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2-6部分：試驗方法試驗Fc：振動(正弦)[Environmental testing—Part2-6：Tests—Test Fc：Vibration (sinusoidal)]
IEC 60255-27：2013 量度繼電器和保護(hù)裝置 第27部分：產(chǎn)品安全要求(Measuring relays and protection equipment—Part27：Product safety requirements)
IEC 60603-7-1：2011 電子設(shè)備連接器 第7-1部分：8路、屏蔽、自由式及固定式連接器的詳細(xì)規(guī)范(Connectors for electronic equipment—Part7-1：Detail specification for 8-way，shielded，free and fixed connectors)
IEC 60794-2：2002 光纜 第2部分：戶內(nèi)光纜 分規(guī)范 (Optical fibre cables—Part2：Indoor cables—Sectional specification)
IEC 60794-3：2014 光纜 第3部分：戶外光纜 分規(guī)范 (Optical fibre cables—Part3：Outdoor cables—Sectional specification)
IEC 61000-4-1：2006 電磁兼容(EMC) 第4-1部分：試驗和測量技術(shù) 抗擾度試驗總論[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-1：Testing and measurement techniques—Overview of IEC 61000-4 series]
IEC 61000-4-2：2008 電磁兼容(EMC) 第4-2部分：試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility(EMC)—Part4-2：Testing and measurement techniques—Electrostatic discharge immunity test]
IEC 61000-4-3：2006＋I(xiàn)EC 61000-4-3：2006/AMD1：2007＋I(xiàn)EC 61000-4-3：2006/AMD2：2010 電磁兼容(EMC) 第4-3部分：試驗和測量技術(shù) 射頻電磁場輻射抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility(EMC)—Part4-3：Testing and measurement techniques—Radiated，radio-frequency，electromagnetic field immunity test]
IEC 61000-4-4：2012 電磁兼容(EMC) 第4-4部分：試驗和測量技術(shù) 電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-4：Testing and measurement techniques—Electrical fast transient/burst immunity test]
IEC 61000-4-5：2014 電磁兼容(EMC) 第4-5部分：試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-5：Testing and measurement techniques—Surge immunity test]
IEC 61000-4-6：2013 電磁兼容(EMC) 第4-6部分：試驗和測量技術(shù) 射頻場感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾抗擾度[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-6：Testing and measurement techniques—Immunity to conducted disturbances，induced by radio-frequency fields]
IEC 61000-4-7：2002＋I(xiàn)EC 61000-4-7：2002/AMD1：2008 電磁兼容(EMC) 第4-7部分：試驗和測量技術(shù) 供電系統(tǒng)及所連設(shè)備諧波、諧間波的測量和測量儀器導(dǎo)則[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-7：Testing and measurement techniques—General guide on harmonics and interharmonics measurements and instrumentation，for power supply systems and equipment connected thereto]
IEC 61000-4-8：2009 電磁兼容(EMC) 第4-8部分：試驗和測量技術(shù) 工頻磁場抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-8：Testing and measurement techniques—Power frequency magnetic field immunity test]
IEC 61000-4-9：1993＋I(xiàn)EC 61000-4-9：1993/AMD1：2000 電磁兼容(EMC) 第4-9部分：試驗和測量技術(shù) 沖擊磁場抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-9：Testing and measurement techniques—Section9：Pulse magnetic field immunity test]
IEC 61000-4-10：1993＋I(xiàn)EC 61000-4-10：1993/AMD1：2000 電磁兼容(EMC) 第4-10部分：試驗和測量技術(shù) 阻尼振蕩磁場抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-10：Testing and measurement techniques—Section10：Damped oscillatory magnetic field immunity test. Basic EMC Publication]
IEC 61000-4-13：2002＋I(xiàn)EC 61000-4-13：2002/AMD1：2009 電磁兼容(EMC) 試驗和測量技術(shù) 交流電源端口諧波、諧間波及電網(wǎng)信號的低頻抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Testing and measurement techniques—Harmonics and interharmonics including mains signaling at a.c.power port，low frequency immunity test]
IEC 61000-4-16：1998＋I(xiàn)EC 61000-4-16：1998/AMD1：2001＋I(xiàn)EC 61000-4-16：1998/AMD2：2009電磁兼容(EMC) 第4-16部分：試驗和測量技術(shù) 0 Hz～150 kHz共模傳導(dǎo)騷擾抗擾度試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-16：Testing and measurement techniques—Test for immunity to conducted，common mode disturbances in the frequency range 0 Hz to 150 kHz]
IEC 61000-4-18：2006＋I(xiàn)EC 61000-4-18：2006/AMD1：2010電磁兼容(EMC) 第4-18部分：試驗和測量技術(shù) 阻尼波抗擾試驗[Electromagnetic compatibility (EMC)—Part4-18：Testing and measurement techniques—Damped oscillatory wave immunity test]
IEC 61025：2006 故障樹分析(FTA)[Fault tree analysis (FTA)]
IEC 61076-2-101：2012 電子設(shè)備連接器產(chǎn)品要求 第2-101部分：圓形連接器 帶有螺紋鎖緊的M12連接器詳細(xì)規(guī)范(Connectors for electronic equipment—Product requirements—Part2-101：Circular connectors—Detail specification for M12 connectors with screw-locking)
IEC 61850-2：2003 配電站通訊網(wǎng)絡(luò)及系統(tǒng) 第2部分：術(shù)語表(Communication networks and systems in substations—Part2：Glossary)
IEC 61850-7-4：2010 電力自動化的通訊網(wǎng)絡(luò)及系統(tǒng) 第7-4部分：基本通訊結(jié)構(gòu) 兼容邏輯節(jié)點分類和數(shù)據(jù)對象分類(Communication networks and systems for power utility automation—Part7-4：Basic communication structure—Compatible logical node classes and data object classes)
IEC/TR 61869-103：2012 電力質(zhì)量測量用互感器的使用(Instrument Transformers—The use of instrument transformers for power quality measurement)
IEC 62271-100：2008 高壓交流開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備 第100部分：交流斷路器(High-voltage switchgear and controlgear—Part100：Alternating current circuit-breakers)
ISO/IEC/IEEE 21451-4：2010 信息技術(shù)傳感器和執(zhí)行器的智能轉(zhuǎn)換器接口 第4部分：混合模式通訊協(xié)議及轉(zhuǎn)換器電子數(shù)據(jù)表(TEDS)格式[Information technology—Smart transducer interface for sensors and actuators—Part4：Mixed-mode communication protocols and Transducer Electronic Data Sheet (TEDS)formats]
CISPR 11：2015 工業(yè)、科學(xué)和醫(yī)療(ISM)射頻設(shè)備-騷擾特性 限值和測量方法[Industrial，scientific and medical equipment—Radio-frequency disturbance characteristics—Limits and methods of measurement]
EN 50160：2010公共配電系統(tǒng)供電電壓特性(Voltage characteristics of electricity supplied by public distribution systems)
3 術(shù)語和定義
GB/T 20840.1界定的以及下列增補(bǔ)的術(shù)語和定義適用于本文件。
3.1 通用定義
3.1.601
低功率互感器 low power instrument transformer
LPIT
由一個或多個可以連接傳輸系統(tǒng)和二次轉(zhuǎn)換器的電流或電壓傳感器構(gòu)成的裝置，目的是傳輸?shù)凸β誓M量或數(shù)字量信號供給測量儀器、儀表和保護(hù)或控制裝置或者類似電器。
示例：由3個電流傳感器、3個電壓傳感器連接到一個合并單元輸出一路數(shù)字信號的裝置就是一種LPIT。
注1：LPIT通常被稱為非傳統(tǒng)互感器(NCIT)；
注2：此類裝置的輸出功率典型值為不大于1 VA。
3.1.602
低功率電流互感器 low-power current transformer
LPCT
用作電流測量的低功率互感器。
3.1.603
低功率電壓互感器 low-power voltage transformer
LPVT
用作電壓測量的低功率互感器。
3.1.604
測量用低功率互感器 measuring LPIT
向測量裝置及儀表傳送輸出信號的低功率互感器。
3.1.605
保護(hù)用低功率互感器 protective LPIT
向保護(hù)和控制裝置傳送輸出信號的低功率互感器。
3.1.606
多用途低功率互感器 multipurpose LPIT
同時滿足測量及保護(hù)應(yīng)用的低功率互感器。
3.1.607
電子式低功率互感器 electronic LPIT
包含有源器件的低功率互感器。
3.1.608
無源低功率互感器 passive LPIT
僅包含無源器件的低功率互感器。
3.1.609
輸入信號 input signal
對應(yīng)于低功率互感器一次端子上電流或電壓的信號。
3.1.610
一次傳感器 primary sensor
電學(xué)的、光學(xué)的或其他的裝置，旨在直接或通過一次轉(zhuǎn)換器將輸入信號的信息傳送給二次轉(zhuǎn)換器。
3.1.611
一次轉(zhuǎn)換器 primary converter
電的、光學(xué)的或其他的裝置，轉(zhuǎn)換來自一個或多個一次傳感器的信號成為傳輸系統(tǒng)適用的信號。
3.1.612
一次電源 primary power supply
一次轉(zhuǎn)換器和/或一次傳感器的輔助電源。
注：可以與二次電源合并(見3.1.620)。
3.1.613
傳輸系統(tǒng) transmitting system
一次部件和二次部件之間傳輸信號的短距離或長距離耦合裝置。
注：依據(jù)所采用的技術(shù)，傳輸系統(tǒng)也可用以傳送功率。
3.1.614
二次轉(zhuǎn)換器 secondary converter
轉(zhuǎn)換傳輸系統(tǒng)傳送的信號成為與輸入信號成正比的信號，供給測量儀器、儀表、以及保護(hù)或控制裝置。
注：對模擬量輸出，二次轉(zhuǎn)換器直接供給測量儀器、儀表和保護(hù)或控制裝置。對數(shù)字量輸出，二次轉(zhuǎn)換器通過合并單元供給二次設(shè)備。
3.1.615
邏輯設(shè)備合并單元 logical device merging unit
邏輯設(shè)備(IEC61850-7-4：2010意義上)，進(jìn)行電流互感器(TCTR)和/或電壓互感器(TVTR)邏輯節(jié)點的時間相干組合，以建立標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)字量輸出。
3.1.616
合并單元 MU merging unit
物理設(shè)備(依據(jù)IEC 61850-2：2003定義的智能電子設(shè)備IED)，在其中實現(xiàn)邏輯設(shè)備合并單元。
注1：合并單元可以是現(xiàn)場互感器的一個組成部分，也可能是分離的單元，例如安裝在控制室內(nèi)。
注2：合并單元的輸入可以是特定的或者標(biāo)準(zhǔn)化的。
3.1.617
獨(dú)立合并單元 SAMU stand-alone merging unit
標(biāo)準(zhǔn)化輸入(模擬量或數(shù)字量)的合并單元。
示例1：獨(dú)立合并單元可用于互感器現(xiàn)場改造升級。
示例2：獨(dú)立合并單元的數(shù)字量輸入可以按照先前GB/T 20840.8—2007數(shù)字量輸出或按照GB/T 20840.9進(jìn)行規(guī)定。這保證了GB/T 20840.8—2007與新GB/T 20840系列標(biāo)準(zhǔn)之間的兼容。
3.1.618
合并單元時鐘輸入 merging unit clock input
如果需要，可用于對多個合并單元進(jìn)行同步的電或者光的輸入。
3.1.619
合并單元電源 merging unit power supply
合并單元的輔助電源。
注：合并單元電源可以與二次電源合并(見3.1.620)。
3.1.620
二次電源 secondary power supply
二次轉(zhuǎn)換器的輔助電源。
注：二次電源可以與一次電源(見3.1.612)或其他互感器的電源合并。
3.1.621
輸出信號 output signal
二次端的模擬量或數(shù)字量信號。
注1：在電穩(wěn)態(tài)下，輸出信號按下列公式定義：
a) 對模擬量輸出：
式中：
Ys——當(dāng)Ysdc＋ys res(t)＝0時，二次轉(zhuǎn)換器輸出的方均根值；
f——基波頻率；
φs——二次相位；
Ysdc——二次直流信號；
ys res(t)——二次剩余信號，包括諧波和次諧波分量；
t——時間瞬時值。
f、Ys、φs在穩(wěn)態(tài)下保持恒定。
b) 對數(shù)字量輸出：
式中：
ys——合并單元輸出的數(shù)字?jǐn)?shù)，代表一次信號的實際瞬時值；
Ys——當(dāng)Ysdc＋ys res(n)＝0時，該合并單元輸出的方均根值；
f——基波頻率；
φs——二次相位；
Ysdc——二次直流輸出；
ys res(n)———二次剩余輸出，包括諧波、次諧波和諧間波分量；
n——數(shù)據(jù)樣本計數(shù)；
tn——一次信號(電流或電壓)第n個數(shù)據(jù)集采樣完畢的有效時刻。
f、Ys、φs在穩(wěn)態(tài)下保持恒定。
注2：LPIT能指示例如電壓偏移、延遲時間等特定特性。因此，需要用GB/T 20840.1—2010、GB/T 20840.2—2014、GB/T 20840.3—2013和GB/T 20840.5—2013中所沒有的上述公式來準(zhǔn)確表述對LPIT的要求。為了與GB/T 20840.2—2014、GB/T 20840.3—2013和GB/T 20840.5—2013相兼容，誤差定義也作了改進(jìn)。
3.1.622
穩(wěn)態(tài)輸入信號 input signal in steady state condition
穩(wěn)態(tài)下一次端子上的電信號。
注：在穩(wěn)態(tài)下，輸入信號按以下的公式定義：
式中：
Xp——當(dāng)xp res(t)＝0時，一次輸入的基波方均根值；
f——基波頻率；
φp——一次相位；
xp res(t)——一次剩余輸入，包括諧波、次諧波和諧間波分量及一次直流電流；
t——時間瞬時值。
f、Xp、φp在穩(wěn)態(tài)下保持恒定。
3.1.623
額定二次輸出信號 rated secondary output signal
Usr
Ysr
二次輸出在額定頻率fr分量下的方均根值，為LPIT的性能依據(jù)。
3.1.624
二次直流電壓偏移 secondary direct voltage offset
Uscdo
低功率互感器在xp(t)＝0時二次輸出的直流電壓分量。
3.1.625
連結(jié)點 connecting point
現(xiàn)場及試驗安裝時供電纜連接的結(jié)點。
注：連結(jié)點由制造方規(guī)定。
3.1.626
低壓器件 low voltage components
與具有額定耐壓水平的一次電路相隔離的所有電氣器件。
注：低壓器件的例子有二次轉(zhuǎn)換器、合并單元和放置在地電位的一次轉(zhuǎn)換器。
3.1.627
喚醒時間 wake-up time
有些LPIT是由線路電流提供電源。這種互感器電源的建立需要在一次電流接通后延遲一定時間，此延時稱為“喚醒時間”。
注：在此延時期間，低功率互感器的輸出為零。
3.1.628
喚醒電流 wake-up current
喚醒LPIT所需的最小一次電流值(見3.1.627)。
3.3 有關(guān)電流或電壓額定值的定義
3.3.601
額定一次電流 rated primary current
Ipr
一次電流值，為LPCT的性能依據(jù)并出現(xiàn)在其標(biāo)志中。
3.3.602
額定擴(kuò)大一次電流 rated extended primary current
Iepr
保證準(zhǔn)確度與額定一次電流下準(zhǔn)確度相同的更大值一次電流，但不超過額定連續(xù)熱電流Icth。
3.3.603
額定擴(kuò)大一次電流系數(shù) rated extended primary current factor
Kpcr
額定擴(kuò)大一次電流與額定一次電流的比值。
3.3.604
額定準(zhǔn)確限值一次電流 rated accuracy limit primary current
LPCT能滿足復(fù)合誤差要求的最大一次電流值。
3.3.605
額定短時熱電流 rated short-time thermal current
Ith
LPCT能在規(guī)定短時間內(nèi)承受無損傷的最大一次電流。
3.3.606
額定動穩(wěn)定電流 rated dynamic current
Idyn
LPCT能承受其電磁力作用而無電氣或機(jī)械損傷的一次電流峰值。
3.3.607
額定連續(xù)熱電流 rated continuous thermal current
Icth
LPCT一次端子允許連續(xù)流過且溫升不超過規(guī)定值的電流值，模擬量二次輸出連接額定負(fù)荷。
3.3.608
額定一次短路電流 rated primary short-circuit current
Ipsc
暫態(tài)一次短路電流的交流分量方均根值，為LPCT準(zhǔn)確度的性能依據(jù)。
注：Ith與熱穩(wěn)定限值相關(guān)，Ipsc與準(zhǔn)確度限值相關(guān)，通常Ipsc小于Ith。
3.3.609
額定對稱短路電流倍數(shù) rated symmetrical short-circuit-current factor
Kssc
額定一次短路電流Ipsc與額定一次電流Ipr的比值。
Kssc＝Ipsc/Ipr
3.3.610
指定的一次時間常數(shù) specified primary time constant
Tp
一次短路電流衰減直流分量時間常數(shù)的指定值，為LPCT暫態(tài)性能依據(jù)。
注：如圖602示例。
圖602 一次時間常數(shù)Tp
3.3.611
故障重現(xiàn)時間 fault repetition time
tfr
在斷路器自動重合閘的工作循環(huán)中，當(dāng)故障未能成功切除時，其一次短路電流從切斷到再次出現(xiàn)的時間間隔。
3.3.612
指定工作循環(huán) specified duty cycle
3.3.612.1
C-O
工作循環(huán)，在其規(guī)定通電期間，一次短路電流假定為具有最不利的初始相角。
注：見圖603。
單次通電：C-t′-O
說明：
t′——第一次故障時間；
t′al——第一次故障達(dá)到準(zhǔn)確級限值的指定時間。
圖603 工作循環(huán)(單次通電)
3.3.612.2
C-O-C-O
工作循環(huán)，在其每個規(guī)定通電期間，一次短路電流假定為具有最不利的初始相角。
注：見圖604。
雙次通電：C-t′-O-tfr-C-t″-O(兩次通電時的磁通極性相同)
說明：
t′——第一次電流通過時間；
t″——第二次電流通過時間；
tfr——故障重現(xiàn)時間；
t′al——第一次故障達(dá)到準(zhǔn)確級限值的指定時間；
t″al——第二次故障達(dá)到準(zhǔn)確級限值的指定時間。
圖604 工作循環(huán)(兩次通電)
3.3.613
暫態(tài)一次電流 primary current in transient condition
ip(t)
電網(wǎng)出現(xiàn)暫態(tài)時低功率電流互感器的輸入信號。
注：在暫態(tài)下，一次電流定義如下：
式中：
Ipsc——一次電流對稱分量方均根值；
f——頻率；
Tp——一次時間常數(shù)；
φp——一次相位；
ip res(t)——一次剩余電流，包括諧波和次諧波分量及一次直流電流；
t——時間瞬時值。
3.3.614
額定一次電壓 rated primary voltage
Upr
一次電壓值，為LPVT的性能依據(jù)并出現(xiàn)在其標(biāo)志中。
3.3.615
低功率電壓互感器的暫態(tài)響應(yīng) transient response of an LPVT
二次輸出對一次電壓暫態(tài)變化的響應(yīng)(參見附錄6B)。
注：例如，在短路時，或者有殘留電荷時重合閘。
3.3.616
暫態(tài)電壓 voltages in transient conditions
電網(wǎng)出現(xiàn)暫態(tài)時LPVT的輸入信號和輸出信號。
注1：在暫態(tài)下，一次和二次電壓定義如下：
式中的Up是實際一次電壓。
注2：暫態(tài)是由3.1.622所列一次輸入公式的一個或多個參數(shù)突然變化引起的。
3.4 有關(guān)準(zhǔn)確度的定義
3.4.3
比值差 ratio error
ε
GB/T 20840.1—2010的3.4.3與下列增補(bǔ)的內(nèi)容均適用：
注601：模擬量輸出和數(shù)字量輸出的電流比值差(εi)或電壓比值差(εu)按下列公式定義：
對模擬量輸出，用百分?jǐn)?shù)表示的比值差按下式：
式中：
kr——額定變比；
Xp——當(dāng)xp res(t)＝0時，實際輸入信號的方均根值；
Ys———當(dāng)Ysdc＋ys res(t)＝0時，輸出信號的方均根值。
此定義僅涉及一次信號和二次信號兩者在額定負(fù)荷及額定頻率下的分量，未考慮直流分量。此定義與GB/T 20840.2、GB/T 20840.3和GB/T 20840.5相兼容。
對數(shù)字量輸出，用百分?jǐn)?shù)表示的比值差按下式：
式中：
kr——額定變比；
Xp———當(dāng)xp res(t)＝0時，實際一次信號的方均根值；
Ys——當(dāng)Ysdc(n)＋ys res(tn)＝0時，數(shù)字量輸出的方均根值。
此定義僅涉及一次信號和二次信號兩者在額定負(fù)荷及額定頻率下的分量，未考慮直流分量。此定義與GB/T 20840.2、GB/T 20840.3和GB/T 20840.5相兼容。
3.4.4
相位差 phase displacement
Δφ
GB/T 20840.1—2010的3.4.4與下列增補(bǔ)的內(nèi)容均適用：
注601：對LPIT，相位差并不總是與相位誤差一致，比如在一些情況下，相位差可能包括可變部分(誤差)和不能被視為誤差的固定部分(相位偏移和延遲時間)。
在GB/T 20840.2、GB/T 20840.3和GB/T 20840.5中涉及的傳統(tǒng)互感器，被認(rèn)為是特例，它的相位差與相位誤差相等，因為它沒有相位偏移和延遲時間。
注602：這一定義對模擬量輸出是完全有效的。
對于數(shù)字量輸出，數(shù)據(jù)幀中時標(biāo)的存在允許對延遲時間進(jìn)行補(bǔ)償，因此它對相位差的影響可忽略。
3.4.6
負(fù)荷 burden
GB/T 20840.1—2010的3.4.6用下列內(nèi)容替代：
二次模擬電路的阻抗由以歐姆和法拉為單位的電阻和電容的并聯(lián)組合表示。
3.4.8
額定輸出 rated output
Sr
不適用。
3.4.601
延遲時間 delay time
td
事件在一次端發(fā)生與在輸出端出現(xiàn)之間的實際時間間隔。
注1：低功率互感器的延遲時間，可以是例如頻帶限制濾波器和數(shù)字處理引起的。
注2：對模擬量輸出的互感器，延遲時間宜為固定的，任何偏離將會形成相位誤差。
注3：對數(shù)字量輸出的互感器，詳見GB/T 20840.9。
3.4.602
額定延遲時間 rated delay time
tdr
模擬量輸出的LPIT之延遲時間額定值。
3.4.603
相位偏移 phase offset
φo
LPIT的相位差，歸因于所采用的技術(shù)，不受頻率的影響。
注：例如羅哥夫斯基線圈這樣的技術(shù)。
3.4.604
額定相位偏移 rated phase offset
φor
LPIT的相位偏移的額定值，歸因于所采用的技術(shù)，不受頻率的影響。
3.4.605
相位誤差 phase error
φe
實際相位差和額定相位偏移與額定延時產(chǎn)生的相位移的和之間的偏差。
注601：相位誤差通過如下公式計算：
φe＝Δφ－(φor＋φtdr)＝φs－φp－(φor＋φtdr)
φtdr＝－2πftdr
式中：
φp——一次相位；
φs——二次相位。
3.4.606
準(zhǔn)確限值系數(shù) accuracy limit factor
Kalf
額定準(zhǔn)確限值一次電流和額定一次電流的比值。
3.4.607
復(fù)合誤差 composite error
εc
在穩(wěn)態(tài)下，當(dāng)一次電流和二次輸出的正方向與端子標(biāo)志的規(guī)定一致時，下列兩者之差的方均根值：
a) 一次電流瞬時值；
b) 實際二次輸出的瞬時值乘以額定變比。
注1：對模擬量輸出，復(fù)合誤差εc通常是按下式用一次電流方均根值的百分?jǐn)?shù)表示的：
式中：
kr——額定變比；
Ip——一次電流方均根值；
ip——一次電流；
us——二次電壓；
T——一個周波的時間；
t——時間瞬時值；
tdr——額定延遲時間。
對于獨(dú)立羅哥夫斯基線圈，見IEC 61869-10。
注2：對數(shù)字量輸出，復(fù)合誤差εc通常按下式表示為一次電流方均根值的百分?jǐn)?shù)：
式中：
kr——額定變比；
Ip——一次電流方均根值；
ip——一次電流；
is——二次數(shù)字量輸出；
T——一個工頻周波的時間；
n——樣本計數(shù)器；
tn——一次電流的第n個數(shù)據(jù)集采樣完畢的有效時刻；
Ts——一次電流兩個樣本之間的時間間隔。
3.4.608
LPIT的暫態(tài)響應(yīng) transient response of an LPIT
二次輸出對一次信號的暫態(tài)變化的響應(yīng)。
3.4.609
瞬時誤差電流 instantaneous error current
iε(t)
iε(n)
二次輸出的瞬時值乘以額定變比與一次電流瞬時值的差值。
注1：對模擬量輸出，瞬時誤差電流按下式定義：
iε(t)＝kr·us(t)－ip(t－tdr)
對于獨(dú)立羅哥夫斯基線圈，見IEC 61869-101)。
注2：對數(shù)字量輸出，瞬時誤差電流按下式定義：
iε(n)＝kr·is(n)－ip(tn)
3.4.610
峰值瞬時誤差 peak instantaneous error
在規(guī)定的工作循環(huán)中的瞬時誤差電流峰值 ，表示為額定一次短路電流峰值的百分?jǐn)?shù)。
注：峰值瞬時誤差用下式表示：
3.4.611
暫態(tài)瞬時電壓誤差 instantaneous voltage error for transient conditions
εu(t)
εu(n)
二次輸出的瞬時值乘以額定變比與一次電壓瞬時值的差值，除以一次電壓峰值，用百分?jǐn)?shù)表示。
注1：對模擬量輸出，瞬時電壓誤差用下式表示：
電壓誤差
式中的up(t)和us(t)是以限定的時間范圍用3.3.616所列公式描述，Up為一次電壓方均根值。
選定的時間起始點是3.1.622所述參數(shù)突然變化的瞬時。
注2：對數(shù)字量輸出，瞬時電壓誤差用下式表示：
電壓誤差
式中的up(tn)和us(n)是以限定的時間范圍用3.3.616所列公式描述，Up為一次電壓方均根值。
選定的時間起始點是3.1.622所述參數(shù)突然變化的瞬時。
注3：有相位偏移的容性傳感器在IEC 61869-112)中描述。
_____________________
1) 考慮中。
2) 考慮中。
3.5 有關(guān)其他額定值的定義
3.5.1
額定頻率 Rated frequency
fr
GB/T 20840.1—2010的3.5.1用下列內(nèi)容替代：
低功率互感器設(shè)計所規(guī)定的工作頻率。
3.5.601
額定頻率范圍 rated frequency range
額定準(zhǔn)確級適用的頻率范圍。
3.5.602
額定輔助電源電壓 rated auxiliary power supply voltage
Uar
基于技術(shù)規(guī)范要求的輔助電源電壓值。
3.5.603
額定電源電流 rated supply current
Iar
在額定條件下，需要輔助電源供給的電流值，包括如有要求時的MU所需電源在內(nèi)。
3.5.604
最大電源電流 maximum supply current
Ia max
在最惡劣條件下，需要輔助電源供給的最大電流值，包括如有要求時的MU所需電源在內(nèi)。
3.7 縮寫的索引
GB/T 20840.1—2010的3.7用下列內(nèi)容替代：
AIS 空氣絕緣開關(guān)設(shè)備
C-O
C-O-C-O 額定工作循環(huán)
CT 電流互感器
CVT 電容式電壓互感器
fr 額定頻率
F 機(jī)械載荷
Frel 相對泄漏率
GIS 氣體絕緣金屬封閉開關(guān)設(shè)備
Ia max 最大電源電流
Iar 額定電源電流
Icth 額定連續(xù)熱電流
Idyn 額定動穩(wěn)定電流
Iepr 額定擴(kuò)大一次電流
ip(t) 暫態(tài)一次電流
Ipr 額定一次電流
Ipsc 暫態(tài)特性的額定一次短路電流
Ith 額定短時熱電流
iε(t)、iε(n) 瞬時誤差電流
IT 互感器
K 實際變比
Kalf 準(zhǔn)確限值系數(shù)
Kr 額定變比
KPcr 額定擴(kuò)大一次電流系數(shù)
Kssc 暫態(tài)特性的額定對稱短路電流倍數(shù)
LPCT 低功率電流互感器
LPIT 低功率互感器
LPVT 低功率電壓互感器
MU 合并單元
Rbr 額定負(fù)荷
SAMU 獨(dú)立合并單元
td 延遲時間
tdr 額定延遲時間
tfr 故障重復(fù)時間
Us ys 系統(tǒng)最高電壓
Um 設(shè)備最高電壓
Upr 額定一次電壓
Usdc o 二次直流電壓偏移
Uar 額定輔助電源電壓
Tp 暫態(tài)特性的額定一次時間常數(shù)
VT (電磁式)電壓互感器
Δφ 相位差
ε 比值差
εc 復(fù)合誤差
最大峰值瞬時誤差
εu(t)、εu(n) 暫態(tài)瞬時電壓誤差
φo 相位偏移
φor 額定相位偏移
φe 相位誤差
4 正常和特殊使用條件
4.2 正常使用條件
4.2.3 振動或地顫
GB/T 20840.1—2010的4.2.3用下列內(nèi)容替代：
開關(guān)操作或短路電動力可能產(chǎn)生振動。LPIT由于外部原因引起的振動(例如斷路器開關(guān)操作等)，應(yīng)列入正常使用條件。LPIT在這種場合下能否正確運(yùn)行，應(yīng)進(jìn)行試驗驗證。由地顫造成的振動按特殊使用條件考慮。
4.2.601 部分戶外型LPIT
對于部分在戶內(nèi)、部分在戶外的這類LPIT，制造方應(yīng)指明設(shè)備哪部分是戶內(nèi)型的和設(shè)備哪部分是戶外型的。
5 額定值
5.3 額定絕緣水平和電壓
5.3.5 二次端絕緣要求
GB/T 20840.1—2010的5.3.5與下列增補(bǔ)的內(nèi)容均適用：
二次端和低壓器件的絕緣要求詳見表601。
如果到二次設(shè)備的傳輸系統(tǒng)的總的電纜長度不超過10m，并且接地阻抗足夠小，則可認(rèn)為共模電壓不超過安全值。在這種情況下，二次端子和低壓器件的絕緣水平則可降低至滿足IEC 60255-27：2013中表C3規(guī)定的要求。
絕緣等級應(yīng)滿足PEB(等電位連接保護(hù))系統(tǒng)要求，即150V的工作電壓。
如果到二次設(shè)備的傳輸系統(tǒng)的總的電纜長度超過10m，則GB/T 20840.1的要求是適用的。
表601 二次端和低壓器件耐受能力
LPIT的傳輸系統(tǒng) 工頻電壓耐受能力 沖擊電壓耐受能力
電纜長度＜10m 820V 1.5kV1.2/50μs
電纜長度≥10m 3kV 5kV1.2/50μs
光接插件 不適用 不適用
5.3.601 額定輔助電源電壓(Uar)
5.3.601.1 一般要求
額定輔助電源電壓是指裝置運(yùn)行時在其自身電源端口測得的電壓，如果有必要，則包括制造方提供的或要求串聯(lián)裝入的輔助電阻或附件，但不包括連接電源的導(dǎo)體。
5.3.601.2 交流電壓
交流電壓的優(yōu)先額定值如下所列：
110V、220V
5.3.601.3 直流電壓
直流電壓的優(yōu)先額定值如下所列：
24V、48V、110V、220V
5.3.601.4 電源端子絕緣要求
電源端子絕緣應(yīng)滿足IEC 60255-27：2013中表C.7規(guī)定的要求。
5.4 額定頻率
GB/T 20840.1—2010的5.4與下列增補(bǔ)的內(nèi)容均適用：
對測量用準(zhǔn)確級，額定頻率范圍為額定頻率(fr)的99％～101％。
對保護(hù)用準(zhǔn)確級，額定頻率范圍為額定頻率(fr)的96％～102％。
如果有規(guī)定，額定頻率范圍之外的準(zhǔn)確度參見附錄6C的規(guī)定。
5.5 額定輸出
5.5.601 額定負(fù)荷(Rbr)
額定負(fù)荷的標(biāo)準(zhǔn)值按照下表中電阻并聯(lián)電容的形式給出：
電阻 電容
2 MΩ 50 pF
對用于與GB/T 20840.8—2007兼容的設(shè)備的情況，2 kΩ/5000pF和20 kΩ/500 pF也可接受。
總負(fù)荷阻抗范圍對準(zhǔn)確度的影響由準(zhǔn)確級條款涵蓋。
應(yīng)當(dāng)注意電氣測量儀器或繼電保護(hù)裝置的并聯(lián)電容。如果傳輸電纜不是傳感器的組成件，則電纜的電容應(yīng)作為負(fù)荷的一部分來考慮。典型的電纜電容值在15 pF/m到100 pF/m范圍內(nèi)。
5.5.602 額定延遲時間的標(biāo)準(zhǔn)值(tdr)
額定延遲時間的標(biāo)準(zhǔn)值為：
50μs、100μs、500μs
5.6 額定準(zhǔn)確級
GB/T 20840.1—2010的5.6用下列內(nèi)容代替：
見附錄6A中的具體產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和諧波要求。
6 設(shè)計和結(jié)構(gòu)
6.7 機(jī)械強(qiáng)度要求
GB/T 20840.1—2010的6.7與下列修改的內(nèi)容均適用：
這些要求僅適用于Um≥72.5kV的獨(dú)立式LPIT。
6.11 電磁兼容(EMC)
6.11.3 抗擾度要求
6.11.3.601 一般要求
表602列出了LPIT的型式試驗項目清單，包括各個項目的試驗水平和評價準(zhǔn)則。
如果LPIT設(shè)計為不含有源電子器件，則根據(jù)定義它是無源LPIT，因此也不適用此條款中的試驗。
注：對高精度無源LPIT的EMC抗擾度測試在考慮中，這類設(shè)備的性能可能受它們的屏蔽能力的影響。
表602 抗擾度要求和試驗
試驗 引用標(biāo)準(zhǔn) 試驗水平 評價準(zhǔn)則
諧波和諧間波試驗a IEC 61000-4-13 2 A
電壓慢變化試驗a GB/T 17626.11 ＋10％～－20％ A
電壓慢變化試驗b GB/T17626.29 ＋20％～－20％ A
電壓暫降和短時中斷試驗a GB/T 17626.11 30％暫降×0.1sc
中斷×0.02sc A
電壓暫降和短時中斷試驗b GB/T17626.29 50％暫降×0.1sc
中斷×0.05sc A
浪涌抗擾度試驗 IEC 61000-4-5 4 B
傳導(dǎo)抗擾度試驗(150kHz～80MHz) IEC 61000-4-6 3 A
傳導(dǎo)抗擾度試驗(0kHz～150kHz) IEC 61000-4-16 4 A
電快速瞬變脈沖群試驗 IEC 61000-4-4 4 B
振蕩波抗擾度試驗 IEC 61000-4-18 3 B
靜電放電試驗 IEC 61000-4-2 3 B
工頻磁場抗擾度試驗 IEC 61000-4-8 5 A
脈沖磁場抗擾度試驗 IEC 61000-4-9 5 B
阻尼振蕩磁場抗擾度試驗 IEC 61000-4-10 5 B
射頻電磁場輻射抗擾度試驗 IEC 61000-4-3 3 A
注1：A——滿足準(zhǔn)確度規(guī)范限值以內(nèi)的正常性能(穩(wěn)態(tài)下，在額定一次電流或額定一次電壓及其較低值內(nèi))。
注2：B——允許與保護(hù)無關(guān)或自恢復(fù)的自診斷無關(guān)的測量性能暫時下降。不允許復(fù)位或重新啟動。不允許輸出過電壓超過500V。對于保護(hù)用電子式互感器，不允許性能下降造成保護(hù)裝置誤動。
a 僅適用于帶交流電源端口的LPIT。
b 僅適用于帶直流電源端口的LPIT。
c 適合于普通保護(hù)裝置的數(shù)值。
6.11.3.602 諧波和諧間波騷擾
目的是檢驗LPIT對其低壓電源諧波和諧間波分量的抗擾度。此試驗僅適用于采用交流電源的LPIT。
6.11.3.603 電壓慢變化
目的是檢驗LPIT對其低壓電源電壓緩慢變化的抗擾度。此要求與交流電源或直流電源有關(guān)。
6.11.3.604 電壓暫降和短時中斷
目的是檢驗LPIT對其低壓電源電壓暫降和短時中斷的抗擾度。此要求與交流電源或直流電源有關(guān)。
6.11.3.605 浪涌抗擾度
目的是檢驗LPIT對電網(wǎng)中操作和雷擊(直接或間接)過電壓引起單向性瞬變過程的抗擾度。此試驗對高壓和中壓設(shè)備非常重要，因為它們遭受雷擊的概率高。
6.11.3.606 傳導(dǎo)抗擾度試驗(150kHz～80MHz)
目的是檢驗LPIT對通過電源線、信號線和地線的感性或容性的耦合傳輸?shù)膫鲗?dǎo)干擾的抗擾度。
6.11.3.607 傳導(dǎo)抗擾度試驗(0kHz～150kHz)
目的是檢驗LPIT對通過電源線、信號線和地線的感性或容性的耦合傳輸?shù)墓ゎl干擾的抗擾度。
6.11.3.608 電快速瞬變脈沖群
目的是檢驗LPIT對極快瞬變脈沖群的抗擾度，其起因是小感性負(fù)載的分合、繼電器接觸彈跳(傳導(dǎo)干擾)，或者高壓開關(guān)操作——尤其是SF6或真空開關(guān)(發(fā)射干擾)。
6.11.3.609 振蕩波抗擾度
目的是檢驗LPIT對高壓和中壓電站低壓電路出現(xiàn)重復(fù)性阻尼振蕩波的抗擾度，其起因是開關(guān)操作(露天電站的隔離開關(guān)，尤其是對高壓母線的合分)，或者是高壓或中壓電網(wǎng)發(fā)生故障。
