Foreword I 1 Scope 2 Normative References 3 Terms and Definitions 4 General Requirements 5 Testing Process and Its Selection 6 Result Evaluation and Quality Classification of Radiographic Testing for Fusion Welded Joint in Pressure Equipment 8 Testing Records and Reports Appendix. A (Informative) Appednix B (Normative) Characteristic Indexes of Industrial Radiographic Film System Appendix C (Informative) Regular Checking Method for Nigrometer (Optical Densitometer) Appendix D (Informative) Determination of Safe Radiographic Time in Dark Room Appendix E (Informative) Schematic Diagram of Typical Radiographic Method Appendix F (Informative) Determination Method for Radiography Times of Circumferential Butt Weld Appendix G (Normative) Calculation Method for Focus Size Appendix I (Informative) Filter Plate Appendix J (Normative) Placement Principle of Location Mark Appendix K (Informative) Measurement Method for Thiosulfate Ion Concentration on Film Appendix L (Normative) Type and Specification of Reference Block

承壓設備無損檢測 第2部分：射線檢測 1 范圍 1.1 NB/T 47013的本部分規定了承壓設備金屬熔化焊焊接接頭X射線和γ射線檢測技術和質量分級要求。 1.2本部分適用的金屬熔化焊焊接接頭的金屬包括鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金。焊接接頭的型式包括板及管的對接接頭對接焊縫(以下簡稱“對接焊縫”)、插入式和安放式接管角接接頭對接焊縫(以下簡稱“管座角焊縫”)和管子-管板角焊縫(參考附錄A)。 1.3承壓設備其他金屬材料、支承件和結構件的焊接接頭的射線檢測也可參照使用。 2規范性引用文件 下列文件對于本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。 GB 11533 標準對數視力表 GB/T 12604.2 無損檢測 術語射線照相檢測 GB 18871 電離輻射防護及輻射源安全基本標準 GB/T 19348.1 無損檢測 工業射線照相膠片 第1部分：工業射線照相膠片系統的分類 GB/T 19348.2 無損檢測 工業射線照相膠片 第2部分：用參考值方法控制膠片處理 GB/T 19802 無損檢測 工業射線照相觀片燈 最低要求 GB/T 23901.2 無損檢測 射線照相底片像質 第2部分：階梯孔型像質計 像質指數的測定 GBZ 117 工業X射線探傷放射衛生防護標準 GBZ 132 工業γ射線探傷放射防護標準 NB/T 47013.1 承壓設備無損檢測 第1部分：通用要求 JB/T 5075 無損檢測 射線照相檢測用金屬增感屏 JB/T 7902 射線照相用線型像質計 3術語和定義 GB/T 12604.2和NB/T 47013.1界定的以及下列術語和定義適用于本部分。 3.1 透照厚度W penetrated thickness 射線照射方向上材料的公稱厚度。多層透照時，透照厚度為通過的各層材料公稱厚度之和。 3.2 工件至膠片距離bobjeet-to-film distance 沿射線束中心測定的工件受檢部位射線源側表面與膠片之間的距離。 3.3 射線源至工件距離f source-to-object distance 沿射線束中心測定的射線源與工件受檢部位射線源側表面之間的距離。 3.4 焦距F focal distance 沿射線束中心測定的射線源與膠片之間的距離。 3.5 射線源尺寸d source size 射線源的有效焦點尺寸。 3.6 圓形缺陷round flaw 長寬比不大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。 3.7 條形缺陷stripy flaw 長寬比大于3的氣孔、夾渣和夾鎢等缺陷。 3.8 透照厚度比K ratio of max. and min. penetrated thickness 一次透照長度范圍內射線束穿過母材的最大厚度和最小厚度之比。 3.9 一次透照長度effective area of a single exposure 符合標準規定的單次曝光有效檢測長度。 3.10 底片評定范圍film evaluation scope 本部分規定的底片上必須觀察和評定的范圍。 3.11 缺陷評定區defect evaluation zone 在質量分級評定時，為評價缺陷數量和密集程度而設置的一定尺寸區域，可以是正方形或長方形。 3.12 雙膠片透照技術double film technique 暗盒內裝兩張膠片和三片增感屏(前、中、后屏)進行曝光，在觀片燈上采用雙片疊加方式進行底片觀察的透照技術。 3.13 小徑管small diameter tube 外直徑Do小于或等于100mm的管子。 4一般要求 4.1 檢測人員 4.1.1 從事射線檢測的人員應滿足NB/T 47013.1的有關規定。 4.1.2從事射線檢測的人員在上崗前應進行輻射安全知識的培訓，并按照有關法規的要求取得相應證書。 4.1.3射線檢測人員未經矯正或經矯正的近(距)視力和遠(距)視力應不低于5.0(小數記錄值為1.0)，測試方法應符合GB 11533的規定。從事評片的人員應每年檢查一次視力。 4.2檢測設備和器材 4.2.1射線裝置 4.2.1.1 可以使用兩種射線源： a)由X射線機和加速器產生的X射線； b)由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射線源產生的γ射線。 4.2.1.2經合同雙方商定，允許采用其他新型射線源。采用其他射線源時，有關檢測技術要求仍應參照本部分的規定執行。 4.2.2射線膠片 4.2.2.1膠片系統按照GB/T 19348.1分為六類，即C1、C2、C3、C4、C5和C6類。C1為最高類別，C6為最低類別，膠片系統的特性指標見附錄B。 4.2.2.2膠片制造商應對所生產的膠片進行系統性能測試并提供類別和參數。膠片處理方法、設備和化學藥劑可按GB/T 19348.2的規定，用膠片制造商提供的預先曝光膠片測試片進行測試和控制。不得使用超過膠片制造商規定的使用期限的膠片。膠片應按制造商推薦的溫度和濕度條件予以保存，并應避免受任何電離輻射的照射。 4.2.3觀片燈 觀片燈的主要性能應符合GB/T 19802的有關規定，最大亮度應能滿足評片的要求。 4.2.4黑度計(光學密度計) 4.2.4.1 黑度計可測的最大黑度應不小于4.5，測量值的誤差應不超過±0.05。 4.2.4.2黑度計首次使用前應進行核查，以后至少每六個月應進行一次核查。核查方法可參照附錄C的規定進行，每次核查后應填寫核查記錄。在工作開始時或連續工作超過8h后應在擬測量黑度范圍內選擇至少兩點進行檢查。 4.2.5標準密度片 標準密度片應至少有8個一定間隔的黑度基準，且能覆蓋0.3～4.5黑度范圍，應至少每2年校準一次。必須特別注意標準密度片的保存和使用條件。 4.2.6增感屏 4.2.6.1 射線檢測一般應使用金屬增感屏或不用增感屏，金屬增感屏應滿足YB/T 5075的要求，增感屏應完全干凈、拋光和無紋道。 4.2.6.2使用增感屏時，膠片和增感屏之間應接觸良好。增感屏的選用應符合表1的規定。 表1 增感屏的材料和厚度 射線源 材料 前屏 后屏 中屏c 厚度/mm 厚度/mm 厚度/mm X射線(≤100kV) 鉛 不用或≤0.03 ≤0.03 — X射線d (>100kV～150kV) 鉛 0.02～0.10 0.02～0.15 2×0.02～2×0.10 x射線d (>150kV～250kV) 鉛 0.02～0.15 0.02～0.15 2×0.02～2×0.10 X射線d (>250 kV～500kV) 鉛 0.02～0.20 0.02—0.20 2×0.02～2×0.10 Tm170 鉛 不用或≤0.03 不用或≤0.03 — Yb169d 鉛 0.02～0.15 0.02～0.15 2×0.02～2×0.10 Se75 鉛 A級0.02～0.20 A級0.02～0.20 2×0.10 AB級、B級 0.10～0.20a AB級、B級 0.10～0.20 2×0.10 Ir192 鉛 A級0.02～0.20 A級0.02～0.20 2×0.10 AB級、B級 0.10～0.20a AB級、B級 0.10～0.20 2×0.10 Co60b 鋼或銅 0.25～0.70 0.25～0.70 0.25 鉛 (A級、AB級) 0.50～2.0 0.50～2.0 2×0.10 X射線 鋼或銅 0.25～0.70 0.25～0.70 0.25 (1MeV～4MeV) 鉛 (A級、AB級) 0.50～2.0 0.50～2.0 2×0.10mm或不用 X射線 銅、鋼或鉭 ≤1.0 銅、鋼≤1.0 0.25 鉭≤0.50 0.25 (4MeV～12MeV) 鉛(A級、AB級) 0.50～1.0 0.50～1.0 2×0.10mm或不用 a如果AB級、B級使用前屏≤0.03mm的真空包裝膠片，應在工件和膠片之間加0.07mm～0.15mm厚的附加鉛屏。 b采用Co60射線源透照有延遲裂紋傾向或標準抗拉強度下限值Rm≥540MPa材料時，AB級和B級應采用鋼或銅增感屏。 c雙膠片透照技術應增加使用中屏。 d采用X射線和Yb169射線源時，每層中屏的厚度應不大子前屏厚度。 4.2.7像質計 4.2.7.1 底片影像質量采用線型像質計或孔型像質計測定。通用線型像質計和等徑線型像質計的型號和規格應符合JB/T 7902的規定，孔型像質計型號和規格應滿足GB/T 23901.2的規定。 4.2.7.2像質計的材料代號、材料和不同材料的像質計適用的工件材料范圍可按表2的規定執行，像質計材料的吸收系數應盡可能的接近或等同于被檢材料的吸收系數，任何情況下不能高于被檢材料的吸收系數。 表2 不同材料的像質計適用的材料范圍 像質計材料代號 Al Ti Fe Ni Cu 像質計材料 工業純鋁 工業純鈦 碳素鋼 鎳-鉻合金 3#純銅 適用材料范圍 鋁，鋁合金 鈦，鈦合金 鋼 鎳-鎳合金 銅、銅合金 4.2.8暗室安全照射時間確定 膠片應在膠片制造商所推薦的安全燈光條件下進行暗室處理，暗室安全照射時問的確定方法可參考附錄D進行。 4.3檢測技術等級 4.3.1 射線檢測技術分為三級：A級——低靈敏度技術；AB級——中靈敏度技術；B級——高靈敏度技術。 4.3.2射線檢測技術等級選擇應符合相關法規、規范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其他技術要求。承壓設備焊接接頭的射線檢測，一般應采用AB級射線檢測技術進行檢測。對重要設備、結構、特殊材料和特殊焊接工藝制作的焊接接頭，可采用B級技術進行檢測。 4.3.3當檢測中某些條件不能滿足AB級(或B級)射線檢測技術的要求時，經合同雙方商定，在采取有效補償措施(例如選用更高類別的膠片)的前提下，若底片的像質計靈敏度達到了AB級(或B級)射線檢測技術的規定，則可認為按AB級(或B級)射線檢測技術進行了檢測。 4.3.4承壓設備在用檢測中，檢測的某些條件不能滿足AB級射線檢測技術的要求時，經合同雙方商定，在采取有效補償措施(例如選用更高類別的膠片)后可采用A級技術進行射線檢測，但應同時采用其他無損檢測方法進行補充檢測。 4.4檢測工藝文件 4.4.1 檢測工藝文件包括工藝規程和操作指導書。 4.4.2工藝規程除滿足NB/T 47013.1的要求外，還應規定下列相關因素的具體范圍或要求；如相關因素的變化超出規定時，應重新編制或修訂工藝規程： a)適用范圍中的結構、材料類別及厚度； b)射線源種類、能量及焦點尺寸； c)檢測技術等級； d)透照技術； e)透照方式； f)膠片型號及等級； g)像質計種類； h)增感屏和濾光板型號(如使用)； i)暗室處理方法或條件； i)底片觀察技術。 4.4.3 應針對具體檢測對象根據標準和工藝規程編寫操作指導書，其內容除滿足NB/T 47013.1的要求外，至少還應包括： a)編制依據； b)適用范圍：被檢測工件的類型(形狀、結構等)、尺寸范圍(厚度及其他幾何尺寸)、所用材料的種類； c)檢測設備器材：射線源(種類、型號，焦點尺寸)、膠片(牌號及其分類等級)、增感屏(類型、數量和厚度)、像質計(種類和型號)、濾光板、背散射屏蔽鉛板、標記、膠片暗室處理和觀察設備等； d)檢測技術與工藝：采用的檢測技術等級、透照技術(單或雙膠片)，透照方式(源-工件-膠片相對位置)、射線源、膠片、曝光參數、像質計的類型j擺放位置和數量，標記符號類型和放置、布片原則等； e)膠片暗室處理方法和條件要求； f)底片觀察技術(雙片疊加或單片觀察評定)； g)底片質量要求：幾何不清晰度、黑度、像質計靈敏度、標記等； h)驗收標準； i)操作指導書的驗證要求。 4.4.4首次使用的操作指導書應進行工藝驗證，以驗證底片質量是否能達到標準規定的要求。驗證可通過專門的透照試驗進行，或以產品的第一批底片作為驗證依據。在這兩種情況下，作為依據的驗證底片應做出標識。 4.5輻射安全防護 4.5.1 輻射防護應符合GB 18871、GBZ 117和GBZ 132的有關規定。 4.5.2現場進行x射線檢測時，應按GBZ 117的規定劃定控制區和管理區、設置警告標志。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。 4.5.3現場進行γ射線檢測時，應按GBZ 132的規定劃定控制區和監督區、設置警告標志，檢測作業時，應圍繞控制區邊界測定輻射水平。檢測工作人員應佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。 5檢測工藝及其選擇 5.1檢測時機 5.1.1 檢測時機應滿足相關法規、規范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其他技術要求。 5.1.2 除非另有規定，射線檢測應在焊接接頭制造完工后進行，對有延遲裂紋傾向的材料，至少應在焊接完成24h后進行。 5.2檢測區 5.2.1 檢測區寬度應滿足相關法規、規范、標準和設計技術文件的要求，同時還應滿足合同雙方商定的其他技術要求，對于非電渣焊焊接接頭，一般應滿足以下規定： a)對于對接焊縫，檢測區包括焊縫金屬及相對于焊縫邊緣至少為5mm的相鄰母材區域； b)對于管座角焊縫，檢測區包括焊縫金屬及相對于焊縫邊緣至少為5mm的安放式接管相鄰母材區域或插入式主管(或筒體、封頭、平板等)相鄰母材區域。 5.2.2對于電渣焊焊接接頭，其檢測區寬度可通過實際測量熱影響區確定，或由合同雙方商定。 5.3表面要求 在射線檢測之前，焊接接頭的表面應經目視檢測并合格。表面的不規則狀態在底片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應對表面作適當修整。 5.4膠片選擇 5.4.1 A級和AB級射線檢測技術應采用C5類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術應采用C4類或更高類別的膠片。 5.4.2 采用γ射線和高能X射線進行射線檢測時，以及對標準抗拉強度下限值Rm≥540MPa高強度材料射線檢測時，應采用C4類或更高類別的膠片。 5.5透照布置 5.5.1膠片透照技術 本部分允許以下兩種膠片透照技術： a)單膠片透照技術 使用單張膠片。X射線(≤100kV)和Tm170射線源只允許采用單膠片透照技術。 b)雙膠片透照技術 使用兩張分類等級相同或相近的膠片。 5.5.2透照方式 5.5.2.1 應根據工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可以實施的情況下應優先選用單壁透照方式，在單壁透照不能實施時才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見附錄E。 5.5.2.2安放式和插入式管座角焊縫應優先選擇源在外透照方式。插入式管座角焊縫源在內透照方式時，應優先選擇射線源放置在支管軸線上的透照布置。 5.5.3透照方向 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區中心，并應與工件表面法線重合，需要時也可選用有利于發現缺陷的方向透照。 5.5.4一次透照長度： a)一次透照長度應以透照厚度比K進行控制。不同級別射線檢測技術和不同類型焊接接頭的K值應符合表3的規定。通過K值確定的整條環向焊接接頭所需的透照次數可參照附錄F的曲線圖確定； b)采用射線源在內偏心透照(F